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湖南盈能电力科技有限公司,专业
仪器仪表及自动化控制设备等。电力
电子元器件、高
低压电器、电力金具、电线电缆技术研发;防雷装置检测;仪器仪表,研发;消防设备及器材、通讯终端设备;通用仪器仪表、电力电子元器件、高低压电器、电力金具、建筑材料、水暖器材、压力管道及配件、工业自动化设备销;自营和各类商品及技术的进出口。
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其方法是将样品固定在振动台上,经过模拟固定频率(50HZ)、变频(5-2KHZ)等各种振动环境进行试验。在一定频率范围内进行一次循环结束后,按规定进行检验。比如说氧化锆
氧气含量
分析仪,就必须避免振动和冲击,实验证明因为由于氧化锆探头内部锆管极易受振动而损坏,
气体分析仪器就不能工作。冲击试验用以检查仪器仪表经受非重复机械冲击的适应性。其方法是将样品固定在
试验台上用一定的加速度和频率,分别在样品的不同方向冲击若干次。
为欧氏空间遥测的同相位系统实验室演示器建立数字控制系统,用于将遥测臂之间的光学路径差维持在10nm之内,这是确保有效 操作的必要条件。欧氏空间
望远镜是为高分辨率光学检测而优化的
干涉仪仪器,利用对成孔径技术对地理静态轨道进行检测。为了获得需要的同相位、所需的分辨率,就要使用复杂的计量和控制系统,以便确保光学配置具有必要的稳定性。集成了一个演示器(称为MIT,Michelson干涉仪测试台)用于对欧氏空间望远镜的两个关键系统进行验证,以便达到同相位条件,以及在Michelson干涉仪仪器中达到的稳定边缘图案样式。
根据上图显示,固晶层缺陷会造成的热阻增大,影响散热性能,具体的影响程度与缺陷的大小有关。测量结壳热阻:这两次测试的分别:次测量,器件直接接触到基板热沉上;第二次测量,器件和基板热沉中间夹着导热双面胶。由于两次散热路径的改变仅仅发生在器件封装壳之外,因此结构函数上两次测量的分界处就代表了器件的壳。如下图所示的曲线变化,可得出器件的热阻。结构无损检测:同批次产品,取固晶层完好、边缘缺陷以及中间缺陷的样品测试。
传感器可以被用来测量各种物理量。根据测量的物理量不同,传感器可以分成
温度传感器、
流量传感器、
压力传感器等很多种类。但是所有传感器工作原理都是基于各种物理定律,如果出现了新的现象或在特定物质中,在某方面出现了奇异的效应,就可以利用这些现象和效应来研制传感器。经常被用来传感器的物理现象和效应有霍尔效应、多普勒效应、压阻效应、应变效应等。但是并不是所有研制出来的传感器都能够使用,因为传感器要满足可靠性的要求,为了从传感器的输出信号中得到被测量的原始信息,如果传感器不稳定,那么对同样的输入信号,其输出信号就不一样,则传感器会给出错误的输出信号,使传感器的作用失灵。
工程师在设计一款产品时用了一颗9A的MOS管,量产后发现坏品率偏高,经重新计算分析后,换成了一颗5A的MOS管,问题解决。为什么用电流裕量更小的器件,却能提高可靠性呢?工程师在设计的过程中非常注意元器件性能上的裕量,却很容易忽视热耗散设计,案例分析我们放到 说,为了帮助理解,我们先引入一个概念:其中Tc为芯片的外壳温度,PD为芯片在该环境中的耗散功率,Tj表示芯片的结点温度,目前大多数芯片的结点温度为150℃,Rjc表示芯片内部至外壳的热阻,Rcs表示外壳至散热片的热阻,Rsa表示散热片到空气的热阻,一般功率器件用Rjc进行计算即可。
时间交错技术可使用多个相同的ADC(文中虽然仅讨论了ADC,但所有原理同样适用于DAC的时间交错特性),并以比每一个单独数据转换器工作采样速率更高的速率来常规采样数据序列。简单说来,时间交错(IL)由时间多路复用M个相同的ADC并联阵列组成。如图1所示。这样可以得到更高的净采样速率fs(采样周期Ts=1/fs),哪怕阵列中的每一个ADC实际上以较低的速率进行采样(和转换),即fs/M。举例而言,通过交错四个10位/100M
SPSADC,理论上可以实现10位/400MSPSADC。
什么是精密模拟微控制器?精密模拟微控制器(见)将高性能模数转换器(ADC)和数模转换器(DAC)与单芯片器和外围设备集成在一起,用来增加对模拟电路的支持。精密模拟微控制器广泛应用于工业、仪表仪器、汽车和通信基础设施等多种应用。,电机控制等特殊的应用要求具有支持多个同步脉宽调制(PWM 2b(如ARM7)内核。中精密模拟外围设备决定了这种微控制器的类型,但数字外围设备的对等补充也同样需要。