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湖南盈能电力科技有限公司，专业仪器仪表及自动化控制设备等。电力电子元器件、高低压电器、电力金具、电线电缆技术研发；防雷装置检测；仪器仪表，研发；消防设备及器材、通讯终端设备；通用仪器仪表、电力电子元器件、高低压电器、电力金具、建筑材料、水暖器材、压力管道及配件、工业自动化设备销；自营和各类商品及技术的进出口。
的产品、的服务、的信誉，承蒙广大客户多年来对我公司的关注、支持和参与，才铸就了湖南盈能电力科技有限公司在电力、石油、化工、铁道、冶金、公用事业等诸多领域取得的辉煌业绩，希望在今后一如既往地得到贵单位的鼎力支持，共同创更加辉煌的明天！
三大功能的组合?FFT功能：可以有效地分析信号中的噪声的频域范围；?数字滤波功能：可以有效地过滤信号中的噪声成分；?自动测量功能：可以用于测量经过数学运算或者数字滤波后的波形的各个参数指标。如上所述，我们已经无形中就将“FFT+数字滤波+自动测量”组了一个可用于噪声、减少噪声、波形测量的利器，可有效地用于存在干扰的被测信号的干扰和快速测量。下面，我们就用这个利器来解决一个经常会遇到的信号测量的问题。
测量仪表的质量通常用一个简单的问题进行评估：测量精度如何?选择 适用的测量仪表就需要认识一下影响测量不确定性的一些因素。这样反过来还可更深入了解该类仪表的技术指标所列出的信息以及未列出的信息。仪表测量的性能根据动态性(量程、响应时间)、准确度(重复性、精密度和灵敏度)以及稳定性(对老化及恶劣环境的容差)来进行评估的。其中，准确度(应该是允许误差，经常被叫精度)通常被视为 重要的质量因素,也是 难以确定的因素。
热力学中常犯的一个错误就是选择和线性稳压器一样简易的装置。当设计即将应用时，设计师通常会意识到这个错误。更糟的是，由于新型线性稳压器的新功能和规格，封装中消散的功率很容易被忽视。这让稳压器的运行温度会超过其额定温度，在实际使用中会引发故障。线性稳压器基本上由一个旁路元件和一个控制器组成。该元件是一个晶体管，可以在控制回路的帮助下成为可变电阻器，从而在旁路元件和负荷之间形成一个分压器。线性稳压器框图注意，旁路元件将在其自身和负荷之间形成一个分压器，起到耗散功率的作用。
电解电容纹波电流及频率测试方法。在设计关电源时，选型电解电容时其中纹波电流是一个很重要的指标，既要经过理论计算也要经过实际测量来保证电解电容的安全工作。电容纹波电流测试连接方法A.电容测试时使用的导线应选用横截面面积0.5mm2(AWG20)以上的导线,如下图:将待测电容连接上导线时要将电容至基板的锡面侧，利用A或B方法测定,此外,尽可能的将导线缩短。平滑COIL前后连接上2个以上的电解电容时，请同时连接上导线测量每个电容的纹波电流,如将导线一个一个连接起来测量的话，无法测出正确的电流值。
直流无刷电机介绍随着电力电子的发展和新型永磁材料的出现，无刷直流电机得到了迅速发展，无刷直流电机通过电子器件实现了电机的换相，取代了传统的机械电刷和换相器。其由电动机主体和驱动器组成，是一种典型的机电一体化产品。电动机的定子绕组多成三相对称星形接法，同三相异步电动机十分相似。电动机的转子上粘有已充磁的永磁体，为了检测电动机转子的极性，在电动机内装有位置传感器。驱动器由功率电子器件和集成电路等构成，其功能是：接受电动机的启动、停止、制动信号，以控制电动机的启动、停止和制动；接受位置传感器信号和正反转信号，用来控制逆变桥各功率管的通断，产生连续转矩；接受速度指令和速度反馈信号，用来控制和调整转速；保护和显示等。
现在大家所使用的电子产品中，都会有各类的传感器，比如槽型光电传感器，应用范围就很广。接下来传感器那些事就带大家来了解什么是槽型光电传感器，槽型光电传感器要注意什么?什么是槽型光电传感器槽型光电传感器是把一个光发射器和一个接收器面对面地装在一个槽的两侧组成槽形光电。发光器能发出红外光或可见光，在无阻情况下光接收器能收到光。但当被检测物体从槽中通过时，光被遮挡，光电关便动作，输出一个关控制信号，切断或接通负载电流，从而完成一次控制动作。
半导体生产流程由晶圆，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。