测试仪器检验攀枝花-认证中心

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

借助现场总线通信(HART、Profibus、FoundationFieldbus),这些装置能被测仪器的quot;健康状态quot;信息,这种状态信息可由资产监测器加以利用。这些资产监测器(如ABB的80OXA扩展自动化系统)可探测到有关仪器性能的下降,通知相应的人员展进一步 ,并在适当的情况下补救措施。无论作为简单的显示或报信息执行,或是作为完整控制系统的一部分,这些功能都可让客户主动对资产使用情况进行优化,而非被动对 出反应。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
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几种常见的有机光谱分析技术红外光谱如何产生?来自红外光源的红外光束经过光束器,这个光束器将一半光束送到一个固定镜子,另一半光束送到可镜子。来自镜子的红外光束在它们达到探测器之前发生反射并且重新结合。所有频率的红外光束在同一时间通过干扰仪,并且镜子的快速能同时产生完整的干涉图。然后利用傅立叶变换将干涉图转换为光谱图。红外光谱的产生红外光谱如何分辨不同成分?分子中存在着O-H,N-H,C-H,S-H等不同能团,不同能团对应着不同组分。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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反馈传感器为仪器动态方位信息。反馈控制器这些信息,并将其转换为伺服电机的校正控制信号。.基本稳定系统。由于很多稳定系统需要多个轴向的主动校正,因此惯性测量单元(IMU)通常包括至少三个轴向的陀螺仪(测量角速度)和三个轴向的加速度计(测量加速度和角定向)来反馈检测功能。反馈传感器的 终目标是定向的测量,即使当正在运动时也要到。由于没有""传感器技术能够在任何条件下的角度测量,因此稳定系统中的IMU通常在每个轴上使用两种或三种传感器类型。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

测试仪器检验攀枝花-认证中心所示是门控本振的工作框图,门控信号控制着扫描发生器什么时候扫描,什么时候通过信号,这就使得451只在门选通期间测量信号频谱。因此只要控制着451在f1频率期间测量信号频谱,即可获得跳频源在f1频率周围的杂散频谱。门控本振工作原理图方法一:外部触发门控信号测试杂散时间门功能测试跳频源杂散连接图跳频源射频输出接入到451的射频输入端口,当跳频源工作在f1频点时,一个同步触发信号给451的门控输入端口。

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