轻工实验室广西-外校单位

轻工实验室外校单位我们选用的PLC为台达公司的DVP32EH，附加8路AD和DA模块，使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序，程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、阀门、加热关等的逻辑控制，数据的读出和写人以及其他相关功能。

红外热像仪可简便、安全、实时、直观地检测和诊断设备故障，确保设备安全和长期运行。外部接线板发热是电流互感器 常见的热故障。这种情况下，由于锈蚀、压接不紧密等原因导致电流互感器一次绕组外部接线板的接触电阻升高。热像仪应用时表现出来的具体热特征是：电流互感器上部接线板与外部导线的连接部位温度明显升高。变比连接板过热也是电流互感器常见的一种典型故障。这种情况下，导致异常发热的主要原因是由于接线板上的零部件发生锈蚀、松脱等现象从而导致电阻升高。

3、传感器的仪器校准实验

(1) 仪器校准实验过程

传感器的校准实验是为了测试高温微压力传感器在不同温度环境下，尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性，进而根据实验数据对传感器进行仪器校准，使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。

仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系，并以此对传感器进行校准，对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验，测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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巴特沃斯滤波器拓扑切比雪夫滤波器拓扑图分别对应他们的端口阻抗与驻波比。巴特沃斯滤波器的SmitVSWR及S21切比雪夫滤波器的SmitVSWR及S21这里可以清楚的看到在史密斯圆环中，两种滤波器不同频率下的阻抗并不相同，巴特沃斯滤波器伴随着频率的增加，阻抗偏离匹配点；而切比雪夫滤波器因为有谐振电路引起阻抗的突变的，所以阻抗会围绕在匹配点附近小范围变化，这就导致切比雪夫滤波器的可用频段比巴特沃斯滤波器更多。

如果不符合要求则需要重新校准，结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷，需要进一步优化设计。

由上述可知，传感器的校准需要大量的实验，受篇幅所限在此不多赘述，故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能，目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。

(2) 实验结果

调节载荷室温度至30℃，保持温度恒定的同时逐步增大压力，记录反射光波长，反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃，重复上述实验。实验数据如表1所示。

经过计算，在30℃温度环境下，传感器非线性为1.77%，重复性为1.31%，综合精度为3.07%;而在250℃高温环境下，传感器非线性为3.05%，重复性为2.07，综合精度为5.12%。以上结果表明，温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响，整体性能也有所降低。此外，通过此次仪器校准实验，很好地验证了该校准实验系统的使用性能，在实验过程中，载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内，压力调节方便可靠，能较快地达到设定气压值，并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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在这些裂缝处，三个如接力棒大小的金属传感器已经“上岗”。“像这些设备监测到的数据通过采集器会传送到监测预云，实现不间断的在线监测、分析和预。我们会将每周生成的数据报告加以整理，汇总成月报信息反馈给住建部门。”肖澎说。而试点这样的危旧房24小时监控，对于住户来说的好处就是对安全的多一重保障。“除了汇总监测的每幢危旧房的数据，我们还会根据楼房的变形程度启动分级预，提出相应的建议。”肖澎进一步解释道，“分级预主要分为四个级别，级别越高说明楼房变形越厉害，当到达四级预时，我们会立即进行危险排查，启动相关 ，根据排查情况由相关部门通知紧急撤离等。

综上所述，该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利，很好地满足了实际需求，达到了设计要求。

4、结束语

通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理，设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统，在地面实验室模拟了传感器实际测压环境，实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明，该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求，是一个稳定可靠、安全便捷的测试，为下一步传感器的仪器校准工作了保障。

轻工实验室广西-外校单位按照存储芯片MicroSD卡供电要求的范围：2.7V-3.6V；不允许超出此范围，否则，芯片在不稳定的电压下工作会有比较大的风险，甚至会对卡片的正常工作带来影响。首先需要考虑的是示波器的设置，究竟是否需要进行20MHZ的带宽限制？详细的使用环境如下图所示：如何去测试“高频关电源”噪声IPAD刚引出来的那个端口可以当电源的源端，而通过后端的外围模块后在末端进行测试的时候，电源通过了一段PCB走线，包括一些芯片回路，应该存在高频的噪声，如果采用20MHZ的带宽限制，实际上是将原本属于模块的噪声给滤掉了，为此，我们进行了对比测试进行验证：步，我先验证IPAD的供电端在工作时的输出，如下图：通过直接验证IPAD的输出口的电压,保证源端的供电是正常的；通过测试，我们发现在源端测量的电压值在3.4V（500MHZ带宽测量）左右，峰峰值29mV，是非常稳定的供电；可以排除源端供电的问题，接下来，我们直接在通过整个模块后在MicroSD卡的供电脚SDVCC对电压进行测量，如下图：当我们在图片上的点进行测试的时候，发现在高频关电源上有相当大的噪声，使得电压超出了规范要求的范围，值达到了3.814V，峰峰值达8mV；但当我们将示波器设置为20MHZ带宽的时候，高频关电源变的非常好，完全在供电要求的范围内；正如在本文头描述的，在本次高频关电源测试过程中，已经不是高频关电源纹波测量，而应该是噪声。