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使用组合透镜系统对物体成像，实现加电时液晶透镜区域清晰，具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向：液晶透镜成像系统测试目的：展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果，测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF，分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程：1.实验室液晶透镜，并通过干涉法获取波前信息，分析得到zernike系数，得到液晶透镜的性能参数，以选择合适的驱动电压；成像系统，对不同区域的物体进行成像实验；使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试，测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。
FLIR红外相机可以在现场抓取高质量的红外热图，并且存贮在后台的计算机中，对于每一模的温度都保存，并且通过后台的软件作出统计分析，对于生产的工艺作出的控制，大大提高压铸厂家的工艺稳定性和数据追溯能力。上图是一个现场的红外热像监控系统，通过在机械臂上的红外相机（在保护壳中），红外相机根据压铸系统中的PLC发出的命令抓图，并且传输到后台计算机中，进一步的温度分布分析。借助FLIR在线红外相机强大的功能以及稳定性，这套系统已经在大量客户现场稳定工作了。
但是亮斑处不是引起报的源头，因为探伤对偏析的信号响应很弱。进一步磨抛进行500倍高倍分析解剖部位，将高倍放大到500倍，发现亮斑中心处有微小缺陷，见下图。图500倍显微组织发现微小裂纹。我们认为该缺陷才是引起探伤仪器报的信号源。该缺陷粗略分析应该是气孔，由于在后续的锻造、精缎过程中形变成线状缺陷。但是 定性必须以电镜和能谱分析作为参考依据。当量大小，由下公式换算：平底孔和长横孔换算：从上面公式可以看出，当检测φ1.2平底孔换算成横截面同当量的长横孔为0.08mm当量。
数字荧光频谱将统计后的频谱直方图各个频率和幅度对应位置的密度以不同颜色等级来演示，色彩表明了信号出现的概率。通过颜色的区别，很容易从数字荧光频谱中查看到隐藏在强信号下的弱信号。，在测量雷达发射机的脉冲信号时，隐藏在大信号下有着小的频谱泄露信号，这中状态利用扫频频谱分析功能很难观察到细致的频谱信息，难以发现小信号的干扰，如所示。利用实时频谱分析功能特有的数字荧光频谱图能够很容易发现隐藏在大信号下的小信号，如所示。
晶闸管又叫可控硅，是一种在晶体管基础上发展起来的大功率半导体器件，主要并广泛应用于整流、逆变、调压及关等方面，对可控硅性能进行检测，对于电控系统的日常维护、保证正常运转具有十分重要的意义。可控硅分单向可控硅和双向可控硅两种，都是三个电极。单向可控硅有阴极（K）、阳极（A）、控制极（G）。双向可控硅等效于两只单项可控硅反向并联而成，即其中一只单向硅阳极与另一只阴极相边连，其引出端称T2极，其中一只单向硅阴极与另一只阳极相连，其引出端称T2极，剩下则为控制极。
晶体管的噪声晶体管的噪声主要有热噪声、散粒噪声、闪烁噪声。热噪声是由于载流子不规则的热运动通过BJT内3个区的体电阻及相应的引线电阻时而产生。其中rbb所产生的噪声是主要的。通常所说的BJT中的电流，只是一个平均值。实际上通过发射结注入到基区的载流子数目，在各个瞬时都不相同，因而发射极电流或集电极电流都有无规则的波动，会产生散粒噪声。由于半导体材料及工艺水平使得晶体管表面清洁不好而引起的噪声称为闪烁噪声。
测控技术与仪器是一门研究信息的获取和，以及对相关要素进行控制的理论与技术。“测控技术与仪器”是指对信息进行采集、测量、存储、传输、和控制的手段与设备，包含测量技术、控制技术和实现这些技术的仪器仪表及系统。什么是测控技术？测控技术与仪器，是建立在精密机械、电子技术、光学、自动控制和计算机技术的基础上，主要研究各种精密测试和控制技术的新原理、新方法和新工艺。近年来，计算机技术在测控技术的应用研究中呈现出越来越重要的地位。
