仪器检测遂宁-CNAS检测机构

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

一般信号发生器的输出信号地与机壳大地为共地，MFG-2系列信号发生器的通道输出、同步和调变输入、输出的连接器大地都是浮动的，与仪器的机壳隔离。这些连接器对大地的承受隔离电压可至±42Vpk(直流+交流峰值)，适用在浮动电路的测试，可以多台仪器并行输出使用而无需考虑接地参考的问题。MFG-2系列信号源的隔离通道设计在实验教学中有很多应用，下面以桥式整理实验为例作简要介绍。桥式整流的电路如图所示：根据二极管的单向导电性，当电路加载一个弦波信号后，经过电路的整流，弦波信号的负半周期的波形将被反转到正半周期。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
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单位越小测量就越，如米尺，直尺，千分尺……垂直档位的变化到底如何影响测量的准确度呢?垂直分辨率对垂直测量的影响一般数字示波器采用的都是8位ADC，对任何一个波形值都是用256个0和1来重组。设示波器垂直方向满量程为8格，对应量化级数256。在垂直档位为500mV/div的情况下，垂直精度 测量同一个信号，在垂直档位为50mV/div的情 V，垂直精度就达到了1.5625mV。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

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基于WB技术的ROADM架构2003年前后，出现了基于平面光波导回路（PLC）技术，通过集成波导技术，将解复用器（通常是AWG）、1×2或2×2光关、VO分光器及复用器等集成在一块芯片上，提高了ROADM的集成度，降低了系统成本。其功能如所示。基于PLC技术的ROADM架构示意图2个维度的ROADM，适用于简单的链状或环状组网，技术特点为：从一个方向光纤来的多波长信号首先通过分光器分成直通和下路两部分，直通部分经解波去掉下路波长后与上路多波长合波输出。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

仪器检测遂宁-CNAS检测机构仪器仪表在使用中经常会遇到意外的电压瞬变和浪涌，从而导致电子设备的损坏，损坏的原因是仪器仪表中的半导体器件（包括二极管、晶体管、可控硅和集成电路等）被烧毁或击穿。据统计仪器仪表的故障有75％是由于瞬变和浪涌造成的。电压的瞬变和浪涌无处不在，电网、雷击、 ，就连人在地毯上行走都会产生上万伏的静电感应电压，这些，都是仪器仪表的隐形致命。为了提高仪器仪表的可靠性和人体自身的安全性，必须对电压瞬变和浪涌采取防护措施。