计量器具校正湘西-电话

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

同时观测了两个通道的时域波形及频谱，并且采用了重叠显示，以便于频谱之间的对比。SpectrumView支持SpectrumTime的位置，如标记处所示，以观测不同时刻的频谱。每个通道SpectrumTime的位置默认是联动的，这保证了各个通道测试频谱的相关性。当取消联动设置后，也可以独立设置每个通道的SpectrumTime位置。所有通道的频谱共用相同的Span、RBW、FFTWindow，这一点与时域要求多通道间共用采样率、水平时基及触发类似。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
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在被检测气体温度较低（0℃～650℃），或被测气体较清洁时，适宜采样式检测方式，如制氮机测氧，实验室测氧等。直插检测式氧探头直插式检测是将氧化锆直接插入高温被测气体，直接检测气体中的氧含量，这种检测方 殊结构还可以用于1400℃的高温），它利用被测气体的高温使氧化锆达到工作温度，不需另外用加热器。直插式氧探头的技术关键是陶瓷材料的高温密封和电极问题。由于需要将氧化锆直接插入检测气体中，对氧探头的长度有较高要求，其有效长度在500mm～1000mm左右，特殊的环境长度可达1500mm。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

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通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度，这就是红外辐射测温所依据的客观基础。红外测温仪亦称红外辐射测温，是一种利用物体自身发射的红外辐射测量物体温度的技术。红外辐射或称红外线是波长位于.76μm～1μm之间的电磁辐射，对于理想的黑体其单位表面积向半球空间发射的所有波长的总辐射功率（简称全辐射度或辐射强度）与物体温度的4次方成正比：Mb(T)=σT^4这就是的斯蒂芬-玻尔兹曼定律。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

计量器具校正湘西-电话什么样的热图像是好图像？好图像就是呈现高对比度，同时显示 细微温差的图像。热像仪可以到这一点，而且可以定义温度范围。原理简介，对于室温上下的温度，操作人员会将热像仪设定在-20°C至+50°C的典型温度范围。所有温度超过此范围的物体，其 亮或 热的部位会显示为饱和颜色；温度低于此范围的物体一般噪点较多。如果物体的温度是+100°C，那就必须选择+20°C至+120°C的范围。在这种情况下，热像仪会显示这个+100°C物体的好图像，但这幅图上的室温物体的细节对比度不如-20°C至+50°C的幅图像。