◆ 规格说明:
产品规格 |
齐全 |
产品数量 |
5555 |
包装说明 |
电议 |
价格说明 |
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测试设备校准校验价格我们选用的
PLC为台达公司的DVP32EH,附加8路AD和DA模块,使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序,程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、
阀门、加热关等的逻辑控制,数据的读出和写人以及其他相关功能。
工件的过程传感。与具和
机床的过程 技术相比,工件的过程 是研究和应用 早、 多的。它们多数以工件质量控制为目标。20世纪80年代以来,工件识别和工件位姿 要求也提到日程上来。粗略地讲,工序识别是为辨识所执行的工序是否是工(零)件要求的工序;工件识别是辨识送入机床待的工件或者毛坯是否是要求的工件或毛坯,同时还要求辨识工件的位姿是否是工艺规程要求的位姿。此外,还可以利用工件识别和工件 传感待毛坯或工件的裕量和表面缺陷。
(1) 仪器校准实验过程
传感器的校准实验是为了测试高温微
压力传感器在不同温度环境下,尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性,进而根据实验数据对传感器进行仪器校准,使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。
仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系,并以此对传感器进行校准,对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验,测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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只要一个简单的内部AND或者OR门控就足以避免使用外部组件,或是改善
CPU性能。所有四种方法都支持用逻辑门控输入和输出信号。这类方法可借助时钟门控输入,以便使用
计数器测量外部时钟频率。这四类逻辑模块均支持的一个简单例子是一种调制UART输出,使之用于IR通信的方法。在此例中,不仅有所示的内部AND门控,还能够将来自时钟或计数器的信号及UARTTX输出路由到AND门控。简单调制的UART[pagebreak]AtmelXMEGA逻辑(XCL)AtmelXCL模块内置两个LUT(查找表)模块,配套两个8位
定时器/计数器模块。
如果不符合要求则需要重新校准,结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷,需要进一步优化设计。
由上述可知,传感器的校准需要大量的实验,受篇幅所限在此不多赘述,故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能,目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。
(2) 实验结果
调节载荷室温度至30℃,保持温度恒定的同时逐步增大压力,记录反射光波长,反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃,重复上述实验。实验数据如表1所示。
经过计算,在30℃温度环境下,传感器非线性为1.77%,重复性为1.31%,综合精度为3.07%;而在250℃高温环境下,传感器非线性为3.05%,重复性为2.07,综合精度为5.12%。以上结果表明,温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响,整体性能也有所降低。此外,通过此次仪器校准实验,很好地验证了该校准实验系统的使用性能,在实验过程中,载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内,压力调节方便可靠,能较快地达到设定气压值,并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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电源机时间的测试机时间(TurnOnTime):输入电压始供电给电源时到电源输出的电压达到要求电压值Va时的时间,如上图所示。测试方法:启动测试:选择启动测试触发源为外部触发,可选用我司IT6500C/D系列
直流电源或IT7600系列交流电源作为待测电源的DC/AC输入,并通过模拟量接口同步信号给负载,当负载接收到TRI信号时,始测试;结束测试:选择结束测试触发源为电平触发方式,触发电平设定为Va,当待测电源输出电压达到Va时,停止测试;负载计算出两个触发信号之间的时间差,即为待测电源的机时间。
综上所述,该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利,很好地满足了实际需求,达到了设计要求。
4、结束语
通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理,设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统,在地面实验室模拟了传感器实际测压环境,实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明,该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求,是一个稳定可靠、安全便捷的测试,为下一步传感器的仪器校准工作了保障。
测试设备校准铜仁-校验价格从以上测试结果可以看出,电压优先模式下,保证电压的输出波形质量,电流有可能会过冲;而在电流优先模式下,不管启动电流是毫安还是安培级,IT6100B都能很好地管理过冲,保证电流的输出波形质量。艾德克斯IT6100B系列(86~1200W)为高速高精度的可编程直流电源,满载上升 可达500us,分辨率可达0.1mV/0.01mA,输出波形优先模式可让电压或电流的上升波形高速且无过冲,在航天
电源模块等高精度测试领域广泛应用。