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齐全 |
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5555 |
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世通仪器关于高温微
压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
现场动平衡测
量仪主要功能具有多功能性,既可作
转速表用,又可作振动测量用,振动信号分析.现场动平衡测量仪特别是具有动平衡测量的一切功能。(不平衡振动量及相位即时显示)机器振动的频率分析(FFT124点)具有自动用试重法测量影响系数并计算单面和双面 配重,或已知影响系数直接根据测量的原始振动计算 配重,可边测边算,或一次性键入计算能力。(去试重或不去试重选择)现场动平衡测量仪具有将计算出的 配重向左右选定角度计算能力。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
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使用趋势图进行数据分析是很常见的分析方法,工程师结合实验数据可以得到很多准确、规律性的结果。测量仪器中的趋势功能如何使用呢?说到趋势图,大家可能会有点模糊不清,到底什么是趋势图?趋势图有什么作用?我们先来看几个图片。折线趋势图柱状趋势图饼状趋势图上面几个是常见的趋势图的形式,以图形的形式,表现某些数据在时间上或分类上的变化。在仪器中的趋势图是什么样的呢?以功率
分析仪来举例,功率分析仪测试所得到的趋势图,往往以测得的数量为纵轴,以时间为横轴绘成图形,用来显示一定时间间隔一天、一周或一个月)内所得到的所有测量结果,一般以折线图或点的形式进行展示。
为了在地面实验室模拟
传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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继电器可以阻挡部分的损害,但是随着系统的使用,继电器使用的寿命将会大大地缩短。就算正确地操作系统,但是如果进行一些故障的设备测试,这个也会给关系统造成很大的压力。关故障诊断方法由于关系统的易损性,这就要求用户采用一些针对关系统的测试检验的方式。在一些上,VXI,就曾经过一些继电器的检测的方法。这个方法包括了能够一些不太协调的自检方式,有时候它只是检测控制系统,而不是继电器的连接(其实这部分是很容易损坏的)。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
仪器外校乐山-认证单位周期性曲线周期性曲线是整个轴线长度上的重复周期误差。沿轴的俯仰保持不变,但幅度可能变化。导致周期性曲线的可能原因主要是
机床方面的问题,如丝杠或
传动系统故障、
编码器问题或故障、长型门式机床轨道的轴线直线度。针对以上问题建议采用很小的采样点间隔在一个俯仰周期上再测量一次,确认俯仰误差。作为一项指导原则,如果你要检查的是机床某元件的周期性影响,可将采样间隔设为预期周期性俯仰的1/8,然后通过比较机床丝杠的螺距、齿条的齿距、编码器、器或球栅尺俯仰、长型门式轨道的支撑点之间的距离等来确认可能的误差来源。