工程类实验室周口-计量单位

工程类实验室计量单位我们选用的PLC为台达公司的DVP32EH，附加8路AD和DA模块，使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序，程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、阀门、加热关等的逻辑控制，数据的读出和写人以及其他相关功能。

原子吸收光谱法，是基于气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光范围的相对应原子共振辐射线的吸收强度来定量被测元素含量为基础的分析方法，是一种测量特定气态原子对光辐射的吸收的方法。此法是20世纪50年代中期出现并在以后逐渐发展起来的一种新型的仪器分析方法，它在地质、冶金、机械、化工、农业、食品、轻工、生物医、环境保护、材料科学等各个领域有广泛的应用。该法主要适用样品中微量及痕量组分分析。每一种元素的原子不仅可以发射一系列特征谱线，也可以吸收与发射线波长相同的特征谱线。

3、传感器的仪器校准实验

(1) 仪器校准实验过程

传感器的校准实验是为了测试高温微压力传感器在不同温度环境下，尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性，进而根据实验数据对传感器进行仪器校准，使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。

仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系，并以此对传感器进行校准，对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验，测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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数字荧光频谱图在一个二维图谱上显示三维数，横轴代表频率，纵轴代表幅度，像素点的色彩是第三个维度代表密度，即统计次数。数字荧光频谱视图示意图实时频谱分析凭借数字荧光频谱图与无缝瀑布图等图的优势，能够发现瞬态信号、查找大信号下的小信号并且能够查看信号随时间变化的全部过程。现信号1.1发现强信号下的弱信号RF信号的多样化和普遍性增加了系统和信号相互干扰的可能性。RF环境的复杂化使得系统极易受到其他信号的干扰或自身产生难以察觉到的干扰信号，利用传统扫频式频谱分析仪器很难在工作环境中识别到干扰信号及其来源。

如果不符合要求则需要重新校准，结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷，需要进一步优化设计。

由上述可知，传感器的校准需要大量的实验，受篇幅所限在此不多赘述，故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能，目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。

(2) 实验结果

调节载荷室温度至30℃，保持温度恒定的同时逐步增大压力，记录反射光波长，反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃，重复上述实验。实验数据如表1所示。

经过计算，在30℃温度环境下，传感器非线性为1.77%，重复性 高温环境下，传感器非线性为3.05%，重复性为2.07，综合精度为5.12%。以上结果表明，温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响，整体性能也有所降低。此外，通过此次仪器校准实验，很好地验证了该校准实验系统的使用性能，在实验过程中，载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内，压力调节方便可靠，能较快地达到设定气压值，并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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同样，产品的颜色、光照及背景情况也很重要，如果变化很大，可能很难或者根本就找不到相匹配的模型。矢量成像技术矢量成像技术采用图像作为示教参考模型，以确保不产生错误。矢量成像不需要像素分析，它靠的是定义元件形状的交点矢量，矢量由方向和倾斜度确定，在矢量成像技术里一个正方形相当于四条线段，一个足球则相当于两个弧形。矢量成像技术采用视窗操作系统，使用一种高分辨率数字相机，系统采用统计过程控制(SPC)软件和一个根据线路板上所装配并需要进行检查测量分析元件所作的综合元件图形库，它能将Gerber、CAD或ASCII/Centrid数据转换成机器代码。

综上所述，该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利，很好地满足了实际需求，达到了设计要求。

4、结束语

通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理，设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统，在地面实验室模拟了传感器实际测压环境，实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明，该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求，是一个稳定可靠、安全便捷的测试，为下一步传感器的仪器校准工作了保障。

工程类实验室周口-计量单位嵌入式设计人员之所以采用MSO，是因为它从能够查看2个或4个信号，扩展到能够查看 多20个信号，而不必求助于 的工具——逻辑分析仪。尽管这种通道数量长期来一直被市场广泛接受，但这是不是仍适合当今的嵌入式系统呢？对示波器商和嵌入式系统设计人员来说，这是一个值得思考的问题。商必需知道其的是不是客户实际需要的、愿意付费购的测试功能。设计人员则需要适合作业的工具。对这一问题的思考，推动了多个科研项目的实施，来自世界各地的嵌入式系统工程师正更加深入地考察示波器通道数量问题。