计量器具校准延安-外校单位
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-20 23:21:59
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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏,关于这个问题,也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。如芯片消耗的电流为2mA,300V的电压加在芯片上面,芯片的功耗为0.6W,当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗,简单的计算公式为I=cvf(考虑充电的电阻效益,实际I=2cvf,其中c为功率MOS管的cgs电容,v为功率管导通时的gate电压,所以为了降低芯片的功耗,必须想法降低v和f.如果v和f不能改变,那么请想法将芯片的功耗分到芯片外的器件,注意不要引入额外的功耗。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏,关于这个问题,也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。如芯片消耗的电流为2mA,300V的电压加在芯片上面,芯片的功耗为0.6W,当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗,简单的计算公式为I=cvf(考虑充电的电阻效益,实际I=2cvf,其中c为功率MOS管的cgs电容,v为功率管导通时的gate电压,所以为了降低芯片的功耗,必须想法降低v和f.如果v和f不能改变,那么请想法将芯片的功耗分到芯片外的器件,注意不要引入额外的功耗。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
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电磁流量计按其出现故障时间的不同可划分为调试期和运行期出现的故障。以下即为常出现的有关电磁流量计的故障现象。调试期故障一般出现在仪表初次调试期间,一旦仪表后,电磁流量计故障即可排除。引起电磁流量计调试期常见故障有不当、外界环境的干扰、流体特性。流体管道系统和仪表等方面此类故障一般是由传感器位置不当引发,将传感器在容易积聚气体的工业管网高点,液体经流量传感器直接排入大气,形成测量管内出现非满管现象,传感器装在流体自上向下流的垂直管道上,容易形成排空现象。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
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电磁流量计按其出现故障时间的不同可划分为调试期和运行期出现的故障。以下即为常出现的有关电磁流量计的故障现象。调试期故障一般出现在仪表初次调试期间,一旦仪表后,电磁流量计故障即可排除。引起电磁流量计调试期常见故障有不当、外界环境的干扰、流体特性。流体管道系统和仪表等方面此类故障一般是由传感器位置不当引发,将传感器在容易积聚气体的工业管网高点,液体经流量传感器直接排入大气,形成测量管内出现非满管现象,传感器装在流体自上向下流的垂直管道上,容易形成排空现象。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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动测量一直被称为示波器测试测量的境界。传统 直观的抖动测量方法是利用余辉来查看波形的变化。后来演变为高等数学概率统计上的艰深问题,抖动测量结果准还是不准的问题就于是变得更加复杂。时钟的特性可以用频率计测量频率的稳定度,用频谱仪测量相噪,用示波器测量TIE抖动、周期抖动、cycle-cycle抖动。但是时域测量方法和频域测量方法的原理分别是什么?TIE抖动和相噪抖动之间的关系到底是怎么推导的呢?抖动是衡量时钟性能的重要指标,抖动一般定义为信号在某特定时刻相对于其理想位置的短期偏移。
动测量一直被称为示波器测试测量的境界。传统 直观的抖动测量方法是利用余辉来查看波形的变化。后来演变为高等数学概率统计上的艰深问题,抖动测量结果准还是不准的问题就于是变得更加复杂。时钟的特性可以用频率计测量频率的稳定度,用频谱仪测量相噪,用示波器测量TIE抖动、周期抖动、cycle-cycle抖动。但是时域测量方法和频域测量方法的原理分别是什么?TIE抖动和相噪抖动之间的关系到底是怎么推导的呢?抖动是衡量时钟性能的重要指标,抖动一般定义为信号在某特定时刻相对于其理想位置的短期偏移。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
计量器具校准延安-外校单位AMRC担负着研究航天和其他高附加值生产部门的先进和材料研究,通过与波音公司合作,在工业界和学术界之间的强强联合,现已成为 研究中心的运营模式。AMRC中的内部部门是先进结构试验中心(AdvancedStructuralTestingCentre简称ASTC),是一家拥有高能力和性能并致力于填补总工程过程中的漏洞的测试和认证中心。由于许多AMRC研制的技术和产品都会用于关键安全部件,所以对于产品的认证和评价,是对新方法和技术的关键参考。
计量器具校准延安-外校单位AMRC担负着研究航天和其他高附加值生产部门的先进和材料研究,通过与波音公司合作,在工业界和学术界之间的强强联合,现已成为 研究中心的运营模式。AMRC中的内部部门是先进结构试验中心(AdvancedStructuralTestingCentre简称ASTC),是一家拥有高能力和性能并致力于填补总工程过程中的漏洞的测试和认证中心。由于许多AMRC研制的技术和产品都会用于关键安全部件,所以对于产品的认证和评价,是对新方法和技术的关键参考。