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2024欢迎访问##文山DCX80-DI数显电流表价格
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此两个标准差分电平的特性不同。本文主要介绍如何用Pico
示波器进行ISO11898标准的CAN总线解码。CAN高电平大概为3.5V左右,CAN低电平大概为1.5V左右,CAN差分电平大概在2V左右。一般情况下,我们可以从三种CAN总线波形上进行解码:1)从CAN-H总线上传输的电平,阈值设置为3V左右即可2)从CAN-L总线上传输的电平,阈值设置为1.6V左右即可3)从差分波形(CANH-CANL)上进行解码,阈值设置为1.5左右即可。
一波形累积如果检测信号拥有明显的周期特性以及稳定的触发条件,那么在示波 的显示屏幕上,波形将一帧帧稳定绘制,我们可以利用波形稳定触发这个特性,在显示中启动波形的累积功能,并将累积计数设置为无限,即可在波形的长时间采样中,对于触发后的波形将不再进行清屏,而是一层层的叠加绘制。不用担心因为刷新率过快而错过异常的波形。观测到异常波形现象后,可以通过历史统计等功能到异常帧。ZDL6示波 多支持5条历史记录,可以定义事件进行二次查找分析和存储。
再简单一点,就是考虑更好的散热吧。功率管发热功率管的功耗分成两部分,关损耗和导通损耗。要注意,大多数场合特别是LED市电驱动应用,关损害要远大于导通损耗。关损耗与功率管的cgd和cgs以及芯片的驱动能力和工作频率有关,所以要解决功率管的发热可以从以下几个方面解决:不能片面根据导通电阻大小来选择MOS功率管,因为内阻越小,cgs和cgd电容越大。如1N60的cgs为250pF左右,2N60的cgs为350pF左右,5N60的cgs为1200pF左右,差别太大了,选择功率管时,够用就可以了。
文章写到这里,我相信大家都理解了为什么频率测量准确对测量的数据结果这么重要了吧。那么接下来我们说说如何保证频率测量的准确。保证频率测量准确的 关键一点就是信号的量程选择,量程选择不合适比如输入信号的幅值小于设定量程的10%,就会因为信号幅值过低而无法触发测频电路导致无测量结果或测量值错误,从而无法准确测量频率,所以选择合适的量程是准确测频的步。其次如果输入信号含有较大的干扰信号,使测频电路误触发导致测量出错,此时为了保证测量信号的完整性,同时保证测试频率准确,可以启设置当中的频率
滤波器,以消除干扰信号的频率测量的影响。
半导体生产流程由晶圆,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫
PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
当其引用标准出现标准变更尤其是检验方法、环境设施有实际变化的情况下,其产品检验的实际检验能力有可能出现变化。这种变化,可能会导致实验室不能按现行有效标准正常展检验工作。我们把这种变化称之为“隐性的”超范围检验。由于标准变更后需要重新进行能力确认,个别实验室怕麻烦,往往会等到监督评审或复评审时才进行确认,从而导致超能力范围检验。实验室应关注和避免这种情况的发生,在能力未确认前,不得使用新标准展检验。
现在考虑一下,当您将100nH的漏电感引入
变压器的两根二次引线,并且将3μH的漏电与初级绕组串联时,将会发生什么。这些电感可在电流路径中建立寄生电感,其中包括变压器内部的漏电感以及PCB和其他元件中的电感。当初始场效应晶体管(FET)关断时,初始漏电感仍然有电流流动,而次级漏电感启初始条件为0A的1-D周期。变压器磁芯上出现基座电压,所有绕组共用。该基座电压使初级漏电中的电流斜降至0A,并使次级漏电电流斜升以将电流传输到负载。