测试仪表校准德阳-认证单位

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

智能手机内部集成了多种设备，为了形成行业统一标准，MIPI联盟发起MIPI（行业器接口）作为应用器制定的放标准。那么如何解析MIPI中的显示模组接口协议MIPI-DSI呢？1.MIPI介绍MIPI是2003年由ARM、NokiST、IT等公司成立的一个联盟，旨在把手机内部的接口如存储接口、显示接口、射频/基带接口等标准化，减少兼容性问题并简化设计。MIPI联盟有不同的工作组，分别定义一系列的手机内部接口标准，如摄像头接口CS显示接口DS射频接口DigRF等。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
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示波器的协议解码功能大家都不生疏，你是否有过波形看起来正常，协议参数、解码设置都正确，却无法正常解码的经历呢?本文以UART协议为例，分享由于波特率漂移导致通信异常的故障排查过程。什么是波特率漂移呢?可以理解为被测部件晶振有偏差，导致实际波特率和正常的波特率不一致。为什么波特率漂移会导致通信异常呢?本文从波形出发，带你自检解码结果。波特率漂移导致通信异常的故障排查引出这样一个真实的例子，P C0FF0FF”，示波器解码结果为“0EE0980F60FC0FF”初步判定通信故障。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

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度是衡量电子测量仪器性能 重要的指标，通常由读数精度、量程精度两部分组成。本文结合几个具体案例，讲述误差的产生、计算以及标定方法，正确理解精度指标能够帮助您选择合适的仪器仪表。测量误差的定义误差常见的表示方法有：误差、相对误差、引用误差。1）误差：测量值x*与其被测真值x之差称为近似值x*的误差，简称ε。计算公式：误差=测量值-真实值；2）相对误差：测量所造成的误差与被测量（约定）真值之比乘以 所得的数值，以百分数表示。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

测试仪表校准德阳-认证单位本文从射频界面、小的期望信号、大的干扰信号、相邻频道的干扰四个方面解读射频电路四大基础特性，并给出了在PCB设计过程中需要特别注意的重要因素。射频电路之射频的界面无线发射器和接收器在概念上，可分为基频与射频两个部份。基频包含发射器的输入信号之频率范围，也包含接收器的输出信号之频率范围。基频的频宽决定了数据在系统中可流动的基本速率。基频是用来改善数据流的可靠度，并在特定的数据传输率之下，减少发射器施加在传输媒介(transmissionmedium)的负荷。