量器具校验铜陵-审厂

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

Opti的环境管理今天,绝大多数城市没有能力有效应对地震,飓风和洪水可能造成的环境破坏。然而,像Opti正在这方面努力,用配备蜂窝物联网硬件的排水系统来应对基础设施的不足。Opti的雨水管理系统Opti的CMAC(连续监测和自适应控制)排水系统通过监测天气预报和启动排水阀来减少水淹和环境危害,从而对抗不可抗力的破坏。排水系统配备的电子设备,可以让他们通过蜂窝网络控制设备的行为。使得能够控制实际的固件,并在空中进行更新,当不在整个地区部署数百个小型排水系统时,这非常有用。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
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另外,TEMCELL的高度也不够,这也是TEMCELL不能进行定量测试的一个原因。根据天线辐射的远场测试分析,对于EGSM/DCS频段的手机天线,被测手机与天线的距离至少大于1米;我们可以看几乎所有的2D暗室都是远大于这个距离。而TEMCELL比这个距离小一些,所以这也是TEMCELL相对于微波暗室来讲测量不准的一个原因。所以,TEMCELL只能对天线定性的分析而不能定量的分析。在实验室可以定性分析几种样机的差异,比较其性能的优劣,但不能作为准确的标准值来衡量天线的性能,只能通过与其他的“金'(Goldensample)对比,大致来判断手机天线的性能。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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像ResearchIR一样,FLIRResearchStudio?允许您工作区,但是以一种全新的方式进行。我们可以选择一个布局,此布局可以只有一个窗格或多达4个不同的窗格,然后我们可以将实时码流从任何连接的摄像机和任何记录文件到这些不同的窗格中。我们甚至可以将多个相同类型的内容放在同一个窗格中,从而在窗格中添加了深度。当我们添加越来越多的图片、录像、实时码流和分析图标,有一个布局助手,帮助您选择在哪里放置一切。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

量器具校验铜陵-审厂 以一个1kΩ的电阻为例,如果电路的通频带为1MHz,则呈现在电阻两端的路电压噪声有效值为4μV(设温度为室温T=290K)。看起来噪声的电动势并不大,但设将其接入一个增益为106倍的放大电路时,其输出噪声可达4V,这时对电路的干扰就很大了。电路板上的电磁元件的干扰许多电路板上都有继电器、线圈等电磁元件,在电流通过时其线圈的电感和外壳的分布电容向周围辐射能量,其能量会对周围的电路产生干扰。像继电器等元件其反复工作,通断电时会产生瞬间的反向高压,形成瞬时浪涌电流,这种瞬间的高压对电路将产生极大的冲击,从而严重干扰电路的正常工作。

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