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仪器外校外校单位我们选用的PLC为台达公司的DVP32EH，附加8路AD和DA模块，使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序，程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、阀门、加热关等的逻辑控制，数据的读出和写人以及其他相关功能。

显示了LTE信号在空中传送(OTA)时的结果。在这种情况下，频宽被设置成40MHz，默认RBW为300kHz。注意很难确定画面中心的辐射。如果有一个窄带(300kHz)干扰源，那么这种设置几乎不可能看得到干扰。LTE信号OTA结果实例。采用1kHzRBW滤波器的实时频谱分析仪提高了查看LTE信号的能力。是使用1kHzRBW滤波器的相同设置。在这种情况下，很明显LTE通道和有效扫描时间仅提高到40ms。

3、传感器的仪器校准实验

(1) 仪器校准实验过程

传感器的校准实验是为了测试高温微压力传感器在不同温度环境下，尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性，进而根据实验数据对传感器进行仪器校准，使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。

仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系，并以此对传感器进行校准，对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验，测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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在这种情况下，Leica的6D测量产品—T系列解决方案应运而生。T系列测量工具的原理是通过在跟踪仪上增加了T-Cam相机，从而在测量和跟踪过程中，不仅可以监控跟踪目标的X,Y,Z(中心值)，同时还可以提取目标的I,J,K(沿三个方向的扭转)用于体现目标的旋转姿态。通过这种方式，可以得到更多的计算信息:通过在T系列目标上增加探针，激光跟踪仪扩展成为走动式的三坐标测量系统，测量范围可以达到直径5m。既方便的利用了激光跟踪仪的现场适应能力、便携性能又能够满足大尺寸工件的高精度测量需求。

如果不符合要求则需要重新校准，结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷，需要进一步优化设计。

由上述可知，传感器的校准需要大量的实验，受篇幅所限在此不多赘述，故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能，目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。

(2) 实验结果

调节载荷室温度至30℃，保持温度恒定的同时逐步增大压力，记录反射光波长，反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃，重复上述实验。实验数据如表1所示。

经过计算，在30℃温度环境下，传感器非线性为1.77%，重复性为1.31%，综合精度为3.07%;而在250℃高温环境下，传感器非线性为3.05%，重复性为2.07，综合精度为5.12%。以上结果表明，温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响，整体性能也有所降低。此外，通过此次仪器校准实验，很好地验证了该校准实验系统的使用性能，在实验过程中，载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内，压力调节方便可靠，能较快地达到设定气压值，并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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国网标准物理层测试要求充电桩的充电控制器与BMS通讯是采用 电动汽车非车载充电机检验技术规范》规定了物理层及链路层测试内容：l物理层测试项目：传输速率测试、信号幅值测试、总线延时测试、总线利用率测试、总线错误率测试、终端电阻变化测试、报文压力测试、抗干扰测试l链路层测试项目：帧格式测试、协议数据单元测试、协议数据单元PDU格式测试、参数组编号PGN测试、传输协议功能测试、地址分配测试。

综上所述，该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利，很好地满足了实际需求，达到了设计要求。

4、结束语

通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理，设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统，在地面实验室模拟了传感器实际测压环境，实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明，该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求，是一个稳定可靠、安全便捷的测试，为下一步传感器的仪器校准工作了保障。

仪器外校龙岩-外校单位可能出现过流的情况在板烧写：在插拔线过程中，因为接错线而导致短路过流；PCB板在生产过程中有焊接短路问题，当编程器给其上电时就会出现过流现象；PCB板上有大容量电容，编程器给PCB板上电瞬间浪涌电流过大，从而误触发过流保护机制。裸片烧写：把芯片放到烧录座时，由于芯片放偏或芯片引脚偏斜，造成编程器上电时短路过流；将芯片从板上拆下，芯片引脚上有锡渣没干净就放到烧录座上编程，造成编程器上电短路。如果编程器的电源过流保护不够完善，当遇到芯片或电路板短路时，轻则损坏编程器，重则可能会损坏芯片或电路板，造成严重的生产事故。