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对动态测试要求比较高的，应确认电流斜率是否满足测试要求。一般而言满量程电流爬升时间越小，动态性能越优越。对测试环境比较恶劣的，应当选择环路带宽比较高的负载，一般而言，满量程电流爬升时间越小，环路带宽越高，恶劣条件下的表现越优越，可靠性也越高。对智能应用及自动化测试要求比较高的用户，应当选择高采样率的负载，高采样率才能保证输入信号的还原、保证应用的 、为智能应用的扩展条件。全天科技大功率直流电子负载系列采用5Khz同步采样技术，可以测量显示瞬态过冲Vp+、瞬态跌落Vp-、电源上升/下降时间等一般负载无法的功能。
典型充电器框图在有线应用中，变压器是一个带有核心的单元，可确保初级产生的(几乎)所有通量都能耦合到次级。这确保了高水平功率传输，进而助力构建高能效的充电器。为了打造无线充电器，变压器被分为初级和次级，初级(发射器)保留在充电器中，次级(接收器)位于将要充电的设备中。初级和次级之间的距离将因应用而异，并会对充电器的性能产生重大影响。通过将核心替换为“空气”，通量传输减少。如果在基于核心的变压器中，耦合系数(k)近似为1，那么在无线应用中，k的值将接近0.25。
此两个标准差分电平的特性不同。本文主要介绍如何用Pico示波器进行ISO11898标准的CAN总线解码。CAN高电平大概为3.5V左右，CAN低电平大概为1.5V左右，CAN差分电平大概在2V左右。一般情况下，我们可以从三种CAN总线波形上进行解码：1）从CAN-H总线上传输的电平，阈值设置为3V左右即可2）从CAN-L总线上传输的电平，阈值设置为1.6V左右即可3）从差分波形（CANH-CANL）上进行解码，阈值设置为1.5左右即可。
电子元器件的降额等级可以参考《 标准——元器件降额准则GJB/Z35-93》，一般可分成三个降额等级：Ⅰ级降额：I级降额是的降额，适用于设备故障将会危及安全，导致任务失败和造成严重经济损失的情况。Ⅱ级降额：工作应力减小对元器件可靠性增长有明显效益，适用于设备故障会使工作任务降级，或需支付不合理的维修费用。Ⅲ级降额：Ⅲ级降额是的降额，相对来说元器件成本也较低。适用于设备故障对工作任务的完成只有小的影响，或可迅速、经济地加以修复。
当外界热激励时，缺陷的存在会影响热传导，导致表面温度分布异常或表面温度随时间的变化异常。采用红外热像仪测量被检复合材料构件表面温度变化，通过一定的信号，甚至借助于参块，获得其表面或内部缺陷的特征（包括缺陷的位置、大小及性质等）。一般来说，缺陷越大，越靠近被检表面，与基体材料的热性质差别越大，越容易被检测出来。1应用特点红外热像检测是无损检测方法之一，具有直观、快速、无污染、一次检测面积大等优点，适用于复合材料构件的现场、快速检测，如器结构的原位检测。
带宽决定了数字示波器对信号的基本测量能力。随着信号频率的增加，数字示波器对信号的准确显示能力下降。实际测试中我们会发现，当被测信号的频率与数字示波器带宽相近时，数字示波器将无法分辨信号的高频变化，显示信号出现失真。：频率为100MHz、电压幅度为1V的信号用带宽为100MHz的数字示波器测试，其显示的电压只有0.7V左右。为同一阶跃信号用带宽分别为4GHz、1.5GHz和300MHz的数字示波器测量所得的结果。
对TBC试件进行早期无损检测具有重大意义。实验原理根据Grzegorz采用盲孔缺陷代替脱粘缺陷进行分析的方法，在对TBC脱粘缺陷的检测实验中，通常在TBC试件的金属基底上盲孔缺陷来模拟真实的脱粘缺陷。本文的线激光扫描热成像方法分为粗扫描阶段和细扫描阶段。在粗扫描阶段的检测原理中，LLFST系统能够在TBC试件表面汇聚出激光点，控制激光点以直线方向高速。当扫描速度足够快且线状时，激光点可以看作是线激光。
