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ENOB=（SINAD-1.76dB）/6.2，其中1.76为理想ADC的量化噪声，6.2为将log2转化为log1的系数比。很明显，SINAD越大，ENOB越大，而提升SINAD的方法就是重点关注与测试精度有关的电路。在数字示波器的架构中，与测试精度有关的电路有：前端采集电路、ADC采样电路。被测信号经前端采集电路进行调理后传输给ADC进行采样。其中前端采集电路及ADC采样电路对ENOB有较大影响，实际工作时，偏置误差，非线性误差，增益误差，随机噪声，甚至还有ADC交织引起的噪声都会增大ENOB。ENOB说明了什么ENOB是衡量ADC性能的标尺，若示波器ENOB指标好，那么偏置误差、增益误差、非线性度等都较小，同时带宽噪声也较低。如果主要被测信号是正弦波信号，那么ENOB就需要重点关注。通常示波器都由前端电路衰减器、放大器等信号调理电路、ADC采样电路组成，在设计的时候，会在前端采用各种射频技术，各种频率响应方式，实现的频响平坦度，以便ADC采样时失真，增大ENOB指标。如何判断ENOB的大小3.11.底噪示波器在不同垂直档位及偏置下的底噪大小是评估示波器测量质量的一个重要依据，通过观测底噪大小，可以判断前端采集电路和ADC采样电路设计的优劣，因为示波器的底噪会增加额外的抖动并较小设计裕量，对测试结果造成较大的影响。
涂镀层测厚仪的测量方法的测量方法主要分为以下几种：磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高；涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低；超声波测厚法：目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵\测量精度也不高；电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层。
什么是电源测试版示波器？他是为电源工程师量身打造的示波器。示波器设计必须平衡不同行业的需求，然后根据电源工程师的测试需求进行优化。作为通用仪器，示波器设计必须平衡不同行业的需求，而电源工程师却只关注模拟信号。通用示波器电源测试不仅资源冗余，同时没有标配专业电源分析软件。那为什么不能基于电源工程师的测试需求进行优化呢？ZLG致远电子推出ZDS3024示波器它为电源测试了什么？什么是电源测试版示波器？顾名思义，电源测试版示波器是为电源工程师量身打造的示波器。
工业物联网时代，在为工业自动化应用选择控制器时，除了基本的参数之外，还应该考虑数据、通讯和高速控制功能。大多数工业控制器，如可编程逻辑控制器（PLC）和可编程自动化控制器（PAC），可以基本功能，如离散和模拟输入/输出（I/O）连接的实时控制。事实上，这种类型的功能是大多数控制器自带的，关注点主要是能的I/O点数量的能力，通常情况下这很容易确定。为了更好的适应工业物联网的实施，在选购工业控制器时，企业还需要考虑其它先进功能，如数据、通信和高速控制等。
电子系统的设计日趋复杂，系统设计工程师要面临的挑战也越多。由于备用时间要进一步延长，但是采用全功率作业模式时，系统的耗电量却也就相应大增。这类系统的备用模式及全功率作业模式，一般都会分别从不同的电源系统借以获得些微的电力供给。换言之，即使不同供电系统的电压完全相同，电源管理系统的设计也会有所不同，来满足不同的需求。在负载范围较广的系统内如何发挥更高的效率一直以来，具长时效性的5V电源系统，大都采用静态电流（Iq）极低的线性低压降稳压器。
式的传感器通过测量外部来探测高温点。测量溶化玻璃的温度来决定适当的熔炉口的温度。在扁平的玻璃品中，传感器在每个阶段都要检测温度。错误的温度或过快的温度变化会造成不平的膨胀或收缩。对于瓶子和容器产品来说，熔化的玻璃会流向保持在同一温度的前炉。红外温度计被用来探测前炉的玻璃的温度。所以它在出口的地方应该是适当的状态。在玻璃纤维制品，红外传感器被用来在炉中探测前炉的玻璃的温度。红外传感器在玻璃工业中另外一个用途是用于挡风玻璃制品工艺中。
为测量仪器选型选择一款合适的测量仪器，您需要了解以下因素食品测温仪进行非接触的无损表面温度测量测量中心温度，同时也需要非接触的无损表面温度测量测温对象始终是同一种总是不同–需要可更换的探头温度 仅需要测量、存储相关的数据，随后分析即可需要完整报告及数据分析无需数据分析功能，仅需打印出曲线数据报告随时随地监测和访问数据用于固定场所与环境的监测长期记录和存储数据，无需频繁读出看性能测温仪、 的测量范围及精度如何？在选择测量仪器时，需要对测量温度和测量仪器自身的量程要清楚，可以询问商产品的具体技术说明书。
