var-12%抗谐波智能电容一览表
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但在CAN总线的工业自动化应用中，由于设备的互通互联的需求越来越多，所以需要一个放的、标准化的高层协议：这个协议支持各种CAN厂商设备的互用性、互换性，能够实现在CAN网络中标准的、统一的系统通讯模式，设备功能描述方式，执行网络管理功能。其中包括：l应用层(Applicationlayer)：为网络中每一个有效设备都能够一组有用的服务与协议。l通讯描述(Communicationprofile)：配置设备、通讯数据的含义，定义数据通讯方式。
示波器的采样根据Nyquist采样定理，当对一个频率为f的带限信号进行采样时，采样频率SF必须大于f的两倍以上才能确保从采样值完全重构原来的信号。这里，f称为Nyquist频率，2f为Nyquist采样率。对于正弦波，每个周期至少需要两次以上的采样才能保证数字化后的脉冲序列能较为准确的还原原始波形。如果采样率低于Nyquist采样率则会导致混迭（Aliasing）现象。采样率SF2f，混迭失真和显示的波形看上去非常相似，但是频率测量的结果却相差很大，究竟哪一个是正确的？仔细观察我们会发现中触发位置和触发电平没有对应起来，而且采样率只有250MS/s，中使用了20GS/s的采样率，可以确定，显示的波形欺骗了我们，这即是一例采样率过低导致的混迭（Aliasing）给我们造成的像。
半导体生产流程由晶圆，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。
煤的自燃是煤炭堆场普遍关注的问题。如果接触氧气中，煤会与之发生反应，并产生热，当温度上升到一定程度时，煤便会自发点燃。对于有些煤种，是否发生自燃并不重要，重要的是什么时候发生。OBA规划师DickMeijer表示：“煤的自燃是我们每天必须考虑的问题。为了防止自燃的发生，我们必须采取恰当的措施。更具体地说，我们派出挖掘机或轮式装载机将可疑区域的煤挖出并铺。而且我们利用专门的防燃设备将这个区域夯实，将氧气排出煤堆。
孔板流量计选型逐渐的趋向现代化和智能化，主要特点表现在以下几个方面：要重视可靠性设计可靠性理论广泛应用于工程技术的各个领域，其分支——可靠性分析和设计更是在先进的孔板流量计设计中得到重视和应用。我们必须深刻认识到高水平的产品离高可靠性保证就是废品。国外先进的孔板流量计，在设计阶段就十分注意可靠性的分析与设计。运用可靠性分配理论，将可靠性指标从系统整机到部件级、元器件级逐级分配，从而使整机的可靠性得到保证。
目前在上有三类车用行驶工况分别是美国USD欧洲EDC和日本JDC，作为地域性销的车辆，在各国销的汽车会针对不同工况进行试验。在我国，尚未有标准性质的工况供生产厂家应用试验，所以构建典型工况是每个EV电机厂家的步。构建典型工况数据 常见的方法有两种，种：获得车辆行驶阻力的模型，调节各项参数，计算出电机实时力矩；第二种：通过车载数据采集系统，将在各种路面上运行的实时数据记录下来。
光学心率传感器的基本结构与运行光学心率传感器使用四个主要技术元件来测量心率：光发射器——通常至少由两个光发射二极管(LED)构成，它们会将光波照进皮肤内部。光电二极管和模拟前端(AFE)——这些元件捕获穿戴者折射的光，并将这些模拟信号转换成数字信号用于计算可实际应用的心率数据。加速计——加速计可测量运动，与光信号结合运用，作为PPG算法的输入。算法——算法能够来自AFE和加速计的信号，然后将后的信号叠加到PPG波形上，由此可生成持续的、运动容错心率数据和其他生物计量数据。
