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很多示波器用户都听说过“滚动模式”，但仅停留在一个模棱两可的概念。滚动模式与常规模式到底有何区别？滚动模式具体有何作用？本文为您一一道来。什么是滚动模式？常规模式：即YT模式，在YT模式下波形非连续采集，存在死区时间，波形叠加显示。滚动模式：波形连续采样，无死区时间，无触发，边采样边显示，波形始终从右往左滚动显示，适用于低频信号的实时观察。滚动模式与常规模式滚动模式有什么用？滚动模式在测量低频信号时可以实时观察信号是否存在异常，了解信号的特征和变化趋势，如频率、幅值、脉宽等。
疫苗安全事件 近，山东省济南市 机关通报了一起“价值数亿元疫苗未经低温冷藏与运输便直接流入18省份”的案件。这起案件一经披露，就极大引发了公众对于疫苗安全性这个问题的关注。并且随着这起案件的进一步，揭露出有九家品企业在这起疫苗案中起到的推手作用，造成了恶劣的社会影响，让不少群众对疫苗接种产生了一种谈虎色变的反应，更让公众对当前的医监管产生了质疑，为何对疫苗冷链温度监测这一关乎群众安全的监管出现如此严重的缺失。
对于能以显函数表现其对流量测量结果影响的物性参数，只要知道这些参数的实际值，就能对其进行修正，如天然气相对密度、压缩因子、等熵指数等对孔板流量计测量的影响。但对大多数流量测量仪表来说，物性参数对其计量性能的影响难以用数学公式准确地表达出来，比如，在液体计量中，容积式流量计和速度式流量计对液体黏度的变化十分敏感，特别是在低黏度下和仪表测量范围的下限，目前还没有通用的黏度修正公式。在天然气流量测量中，天然气密度变化对涡轮、涡街等速度式流量计有明显的影响，若考虑流量计在低压下用空气介质检定的结果是否能直接用于高压下的天然气时，在线实流检定成为完全消除物性参数影响的选择，因为干式检定、离线检定不能消除物性参数对上述流量测量仪表的影响。
本文主要介绍一下采样率和分辨率对于信号发生器输出波形的影响。DDS和Arb的原理简介DDS模式在DDS模式下，信号发生器使用一个特别的缓存访问机制和时钟机制来实现DDS模式。使用DDS模式可以输出一个高精度频率的波形。传统的模式是输出储存器中波形的每个样点，与传统的模式不同DDS模式在缓存中储存着单个周期的大量采样点，使用DDS技术可以让函数发生器或者是任意波形发生器从缓存中选择输出哪个样本点。
灯具分布光度计是一种大型的精密光学测试设备，是灯具分布光度测量中必备的重要设备。传统的分布光度计主要为机械式结构，通过机械控制探头旋转测量整个三维空问的灯具光强分布。目前在发展中的这类传统分布光度计主要有旋转反光镜式分布光度计。运动反光镜式分布光度计和旋转灯具式 LED的光学和电学测试进行了要求，也是采用传统光度测量方法进行LED测试的依据。近年来，随着CCD成像技术的发展与成熟，同时由于其可视化效果好，简易方便，人们始逐渐寻求采用成像技术来进行光度测量，目前已有可用于基于成像技术的亮度计，辅助传统类型的亮度计。
如何利用热像仪对互感器进行检测室外互感器的测量受外部环境干扰的因素较多，因此我们建议：热像仪检测时要注意躲避阳光直射，特别是避免正午进行拍摄，是在无风或风速很小的时候进行检测;在安全的距离条件下，热像仪尽量靠近被测的互感器;在进行电压互感器的红外检测时，应注意检测其瓷柱的温度，由于它们的温升较小，要将红外热像仪的灵敏度调节到较大的位置。热点温度80℃或δ≥95%;热点温度55℃或δ≥80%;温差不超过10K，未达到严重缺陷的要求;以串并联出线头或大螺杆接触 ;螺杆出线夹为温度的热像或以顶部铁帽发热为特征;内连接电流互感器;设备类别和部位热像特征故障特征一般缺陷严重缺陷危急缺陷;介质损耗偏大、匝间短路或铁芯2-3,损耗增大。
LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏，关于这个问题，也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗，简单的计算公式为I=cvf（考虑充电的电阻效益，实际I=2cvf，其中c为功率MOS管的cgs电容，v为功率管导通时的gate电压，所以为了降低芯片的功耗，必须想法降低v和f.如果v和f不能改变，那么请想法将芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入额外的功耗。
