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可控硅检测方案分析电控系统长时间运行后，电发动机会出现跳闸等故障。基于此，对可控硅性能好坏进行检测，对于系统的日常维护、保证正常运转具有十分重要的意义。通常对电气设备的检测设备及方法有万用表、漏电仪、摇表，另外，还可以利用示波器观测导通电流以判断可控硅导通情况。在实际生产中，仅采用万用表无法判断可控硅的故障。下面对几种检测方法进行对比，以得出可控硅检测的方法。漏电仪检测法（耐压试验）采用大电流发生器（简称升流器）对可控硅K两极之间进行漏电试验。
毋庸置疑，5G将给用户带来全新的体验，它拥有比4G快十倍的传输速率，对天线系统提出了新的要求。在5G通信中，实现高速率的关键是毫米波以及波束成形技术，但传统的天线显然无法满足这一需求。5G通信到底需要什么样的天线？这是工程发人员需要思考的问题。本文新加坡国立大学终身教授、IEEEFellow陈志宁为大家讲解5G通信中的未来天线技术。 介绍陈志宁：双博士，新加坡国立大学终身教授，电子电气工程师学会会士(IEEEFellow)，电子电气工程师学会天线与传播学会杰出演讲人；现担任IEEECouncilonRFID(CRFID)副 和杰出演讲人；已发表了五百余篇科技 ，其中一百多篇IEEETrans，出版了五部英文专著，并拥有几十项天线专利和成功的技术。
在电池的研发和生产过程中，电池的充放电率、高中低倍率放电特性、大小电流过放电特性、常温高温低温内阻特性、容量分布测试等可靠性测试，以及电池内部短路、持续充电、强迫放电等电流电阻安全测试都是必不可少的。那在这些测试中，电池内阻的检测都是非常关键的一步。电池内阻作为锂电池 重要的内部参数之一，与电池的性能检测、寿命评估和能量管理都有着非常紧密的，是衡量电池性能的一个重要技术指标。但在实际应用中，却存在不少的问题：当充/放电时，阻抗是影响电气特性及效率的因素之一。
相邻蜂窝与扇区之间的能量重叠是一个关键的性能指标。扇区功率比是对在某个期望的接收区域内、外获得的信号功率进行的比较，作为某个天线辐射方向图的结果。该比值越低，说明天线的性能越好。在蜂窝网络应用中，扇区功率比越高，则表示相邻覆盖区域内天线之间的干扰越高。由于在重叠区域内信号的竞争，干扰可能会增加，并 终降低性能。这会导致诸如电话掉话等性能问题；为防止出现这样的干扰，必须进行的扇区分割规划。为了支持巨大数量的语音和数据通信流量，蜂窝网络会在整个网络内多次重复利用频率或信道编码。
现在市面上在的示波器基本全都是数字示波器了。这里要强调的一点仍然是死区时间，这依赖的是数字示波器后面的和显示速度。虽然在现有的技术水平下仍然无法到实时，但是的速度越快，丢失的波形就越少，有关这方面性能是指标叫——波形刷新率。因此大家选用示波器的时候也记得关注一下这个参数，毕竟对于200MHz带宽示波器来说，几乎所有的品牌都会配1G的采样率，但是波形刷新率就差好多了，品牌只到的50 0k，波形观测的死区时间就少了特别多，那示波器抓到异常波形的概率就更大了，这一点的差别还是很大的。
尽管如此，各个通道的中心频率可以独立设置，默认是联动的，也可以根据需要设置为不同值。SpectrumView支持自动搜索峰值， 多支持11个PeakMarker，幅值的频点自动标记为“Ref.Marker”，其它Marker的频点和幅值可以显示为值，也可以显示为相对于“Ref.Marker”的相对值。如果所需要的Marker数目超过限制，还可以通过使用频域的cursor确定频率和幅值。时域、频域的独立并行分析.信号采集和分析架构示意图给出了信号采集和架构示意图，模拟信号经过ADC转换为数字信号后，时域和频域是并行的，从而可以独立设置时域和频域捕获时间。
的新型传感器之一：单芯片雷达片上系统(system-on-chip，SoC)，其在汽车中的广泛采用大幅提高了销量，从而促进了价格的下降。这些精密的IC器件对汽车商而言至关重要，对其它应用也同样有很大的吸引力。在汽车应用领域，尽管IC器件将继续占据主导地位，设计人员也在探索一系列新用途可以提高安全性和便利性。谁能想到单芯片雷达呢?虽然现在多个商已经设计出多种形式的单芯片雷达。大多数 已经发出24GHz、76-81GHz、94GHz频段的芯片。
