测试仪表外校宁德-检验报告

测试仪表外校宁德-检验报告测试仪表外校宁德-检验报告
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

差模干扰在两根信号线之间传输，属于对称性干扰。2干扰的产生在仪表系统中， 常用的信号制是4～20mADC或1～5VDC。被测量量先被转换成毫安或毫伏信号，由于二次仪表距离现场较远，传输到控制系统处的，除了有用的信号外，经常还有一些与测量信号无关的电压或电流存在，这就是干扰。干扰形成有3个环节：干扰源；对干扰敏感的接收电路；干扰的传输途径。切断任何一个环节就会消除干扰。干扰的主要引入方式有以下几种。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
测试仪表外校宁德-检验报告

5的道路车辆熔断器国标中，对熔断器的参数定义及测试指标了详细的说明。完整的丝相关测试包含导通压降测试，熔断时间，级进电流及分段能力测试。本文主要以SF3和SF51为待测对象，重点介绍熔断时间测试。熔断时间实验要求下图摘自ISO882-1_27国标中针对SF3和SF51的熔断测试要求，熔断时间需在过载电流从1.1IR~6.IR范围内测试，当过载电流越大，熔断时间越快。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

测试仪表外校宁德-检验报告

也就是说物体只要是有温度存在,就会有热辐射产生。辐射电磁波谱如。电磁波谱是由波长相差很大的r射线、x射线、可见光、紫外线、红外线、和无线电波组成。它们的波长范围是1~3m到1~8m,可见光谱仅是其中的很小一部分,约.38μm到.78μm,而比可见光更长的的一段波长辐射是红外辐射.7μm到15μm。铁路 红外测温仪的应用波长为8～14μm,主要是用在远红外区域内。由此可知低温时辐射能量较小,而且主要是发射较长波长的红外线,随着温度的升高,辐射能量急剧增加,同时辐射光谱也会逐渐的向短波方向。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

测试仪表外校宁德-检验报告当今的设计对为其上电的系统提出了更高的要求。您可能会发现，很多的设计问题是由电源系统引起的。为进一步提升您的电源使用技能，本期在期的基础上又增加了四种技巧。技巧1为低功耗设备供电很多设备都是为使用低电压、低电流而设计的。如果功率过高，这些低功率设备很容易受到损坏。避免电源损坏的方法是使用专为低功率应用而设计的电源。对于更高功率的电源，即便其的OCP(过流保护)值也可能还是不够低。就以 的120W台式电源为例，它的OCP值也是限制到100mA或更高。