◆ 规格说明:
产品规格 |
齐全 |
产品数量 |
5555 |
包装说明 |
电议 |
价格说明 |
电议 |
◆ 产品说明:
测试仪器校验江门-CNAS检测机构测试仪器校验CNAS检测机构
测试仪器校验CNAS检测机构我们选用的
PLC为台达公司的DVP32EH,附加8路AD和DA模块,使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序,程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、
阀门、加热关等的逻辑控制,数据的读出和写人以及其他相关功能。
ZDS2系列
示波器标配4Mpts的FFT,在1GSa/s的FFT等效采样率下频率分辨率仍能精细到25Hz,可准确快速的分析信号干扰来源。数字
滤波器功能。它是使用IIR或FIR数字滤波器,对被测信号进行数字滤波。通过较少的计算量,可以使通带内具有很好的平坦度、阻带内有足够的衰减和足够小的阻带纹波。ZDS224示波器标配的IIR数字滤波功能可选择高通或低通滤波,截止频率可选择1Hz到1MHz的宽调节范围。
(1) 仪器校准实验过程
传感器的校准实验是为了测试高温微
压力传感器在不同温度环境下,尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性,进而根据实验数据对传感器进行仪器校准,使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。
仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系,并以此对传感器进行校准,对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验,测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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简单介绍完比较基础的电阻、电容和
电感器后,接着小纬来介绍组件的特性以及一些测量的技巧。组件特性这个部分小纬主要介绍的是电阻、电感和电容的阻抗随着频率变化时的特性。首先是关于
电阻器的频率响应特性。理想状态下电阻跟频率是没有关系的,但以高阻值电阻来说,由于存在着寄生电容,在实际测量时阻抗会有一些变化。随着频率升高,实际测量的阻值是有减少的。而低阻值电阻则是由于有引线电感,当测试频率升高时,实际所测量出来的阻值会比理论值还偏大。
如果不符合要求则需要重新校准,结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷,需要进一步优化设计。
由上述可知,传感器的校准需要大量的实验,受篇幅所限在此不多赘述,故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能,目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。
(2) 实验结果
调节载荷室温度至30℃,保持温度恒定的同时逐步增大压力,记录反射光波长,反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃,重复上述实验。实验数据如表1所示。
经过计算,在30℃温度环境下,传感器非线性为1.77%,重复性为1.31%,综合精度为3.07%;而在250℃高温环境下,传感器非线性为3.05%,重复性为2.07,综合精度为5.12%。以上结果表明,温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响,整体性能也有所降低。此外,通过此次仪器校准实验,很好地验证了该校准实验系统的使用性能,在实验过程中,载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内,压力调节方便可靠,能较快地达到设定气压值,并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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LPWAN行业应用而目前LPWAN主要可分为两类:一类是工作于未授权频谱的LoRa技术;另一类是工作于授权频谱下的NB-IoT。频段授权分布LoRa模块是指基于Semtech公司SX127X系列芯片研发的一款工业级射频无线产品,相比传统的窄带调制技术,LoRa模块采用了扩频调制技术在同频干扰的性能方 有明显优势,解决了传统设计方案无法同时兼顾距离、抗扰和功耗的弊端。NB-IoT指窄带物联网(NarrowBand-InternetofThings)技术,是工作在授权频段的技术,核心是面向低端物联网终端(低耗流),适合广泛部署在智能家居、智能城市、智能生产等领域,对长距离、低速率、低功耗、多终端的物联网应用具有较大优势。
综上所述,该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利,很好地满足了实际需求,达到了设计要求。
4、结束语
通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理,设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统,在地面实验室模拟了传感器实际测压环境,实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明,该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求,是一个稳定可靠、安全便捷的测试,为下一步传感器的仪器校准工作了保障。
测试仪器校验江门-CNAS检测机构且可重复的测量现有式振动探头(参见)在实现方法上具备一些优势,包括不需要对终端设备任何修改,而且其集成度相对较高,尺寸较大,可充足的能力和存储空间。然而,它的一个主要局限是测量结果不可重复。探头位置或角度稍有改变,就会产生不一致的振动剖面,从而难以进行的时间比较。维护技术人员首先需要弄清所观察到的振动偏移是由机器内部的实际变化所致,还是仅仅因为测量技术的变化所致。理想情况下,传感器应当结构紧凑并且充分集成,能够直接 性地嵌入目标设备内部,从而消除测量位置偏移问题,并且可以完全灵活地安排测量时间。