测试仪表校验吉安-检测单位

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广东省世通仪器检测服务有限公司占地6亩，实验室面积达1200平方米。校准源齐全，拥有福禄克、惠普、安捷伦、菊水、新天等大批进口国产 仪器，覆盖校准检测范围广。

示波器的协议解码功能大家都不生疏，你是否有过波形看起来正常，协议参数、解码设置都正确，却无法正常解码的经历呢?本文以UART协议为例，分享由于波特率漂移导致通信异常的故障排查过程。什么是波特率漂移呢?可以理解为被测部件晶振有偏差，导致实际波特率和正常的波特率不一致。为什么波特率漂移会导致通信异常呢?本文从波形出发，带你自检解码结果。波特率漂移导致通信异常的故障排查引出这样一个真实 0FF0FC0FF0FF FF”初步判定通信故障。
中心设有:力学、长度、衡器、电学、电磁、热工、几何量、轻工物性等*校准检测实验室。本校准与检测中心可对以上类别范围的各国仪器和相关产品进行校准和检测并出具认可的校准证书或检测报告。

长度计量：

长度计量校准实验室：量传历史*长、标准设备*全、检测维修能力*强的实验室，本室共建有量块、平直度、粗糙度、光学仪器、测绘仪器、通用量具、精密测量、三坐标测量机、圆度仪、验光标准器组等共55项社会公用计量标准，负责本地区的几何量的量值传递，检测和校准服务，展各项目计量仪器的检定、校准、修理。
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半导体生产流程由晶圆，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

展的检定／校准项目： 量块、平晶、干涉仪、测长仪、经纬仪、水准仪、测厚仪、坐标测长机、光学计、投影仪、影像测绘仪、工具显微镜、电动轮廓仪、气动量仪、偏摆仪、测微仪、液塑限测定仪、直角尺检定仪、百分表检定仪、千分表检定仪、量仪测力仪、水平仪检定器、水平仪零位检定器、测量显微镜、读数显微镜、金相显微镜、光学平直仪、水平尺、电子水平仪、合象水平仪、框式水平仪、平板、平尺、宽座角尺、口尺、线纹钢直角尺、角尺、卡尺、千分尺、指示表、内径表、杠杆表、数显表、钢卷尺、钢直尺、塞尺、工程检测尺、方箱、环规、螺纹量规、表面粗糙度样块、半径样板、螺纹样板、滑板式汽车侧滑检验台、轮偏检测仪、线缆计米器、线速激光测径。对有关长度、角度、粗糙度、平面度、线纹、端度、形状与相互位置的量值进行校准。

测试仪表校验吉安-检测单位分工频耐压试验和直流耐压试验两种。工频耐压试验其试验电压为被试设备额定电压的一倍多至数倍，不低于1000V。其加压时间：对于以瓷和液体为主要绝缘的设备为1分钟，对于以有机固体为主要绝缘的设备为5分钟，对于电压互感器为3分钟，对于油浸电力电缆为10分钟。电气设备经耐压试验能够发现绝缘的局部缺陷、受潮及老化。交流耐压试验：在被试设备电压的2.5倍及以上进行，从介质损失的热击穿观点出发，可以有效地发现局部游离性缺陷及绝缘老化的弱点。