计量器具校准成都-校准公司

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

它不仅仅是一个点信息，或代表一个位置，更代表着上下文与周围邻域的组合关系。比如在人脸关键点检测任务当中，有28个关键点，或是现在比较流行的64个、128个关键点，这里面每个点在不同的人脸当中，代表了一类的特征，且具有一定的通用性。这一类特征不仅包含了像素的一些特性，比如嘴唇的特征点，包含了嘴唇与面部的位置关系。右边的图片是前段时间比较火的阿里推出的服饰关键点比赛，比如在这件服饰中了13类关键点，每个关键点之所以被为一类关键点，因为它代表了服饰当中某一个特定的位置，或者某一个特定的位置所能代表的周围的关系。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
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测试采用TOS2000B系列示波器外观如下图：测试步骤如下：1.电压探头衰减设置→2.采集通道调试→3.触发控制→4.光标测量读数设置1.电压探头衰减设置电压探头有不同的衰减系数，这些系数影响信号的垂直刻度。探头检查向导验证示波器的衰减系数是否与探头匹配。作为探头检查的替代方法，您可以手动选择与探头衰减相匹配的系数。，要与连接到CH1的设置为10X的探头相匹配，请按下通道1“Menu（菜单）”“探头”“电压”“衰减”选项，然后选择10X。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

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整流电路测试是教育课程及相关电子行业不可缺少的环节。以下波形由非隔离信号源产生。当使用非隔离信号源时，D1二极管的每一端分别与信号源和示波器的相应地线连接。这种方式会出现等电位短路，因此不能显示负半周整流波形。以下波形由隔离通道信号源产生。隔离信号源的输出信号地线不与示波器共同接地，因此可以模拟整流波形输出。只有隔离的信号源才能显示桥式整流电路的正确波形。为了实现上述实验目标，一些非隔离信号源的用户倾向于断电源线的接地，从而导致仪器浮地。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

计量器具校准成都-校准公司PCB设计基频电路时，需要大量的信号工程知识。发射器的射频电路能将已过的基频信号转换、升频至的频道中，并将此信号注入至传输媒体中。相反的，接收器的射频电路能自传输媒体中取得信号，并转换、降频成基频。发射器有两个主要的PCB设计目标：是它们必须尽可能在消耗 少功率的情况下，发射特定的功率。第二是它们不能干扰相邻频道内的收发机之正常运作。就接收器而言，有三个主要的PCB设计目标：首先，它们必须准确地还原小信号；第二，它们必须能去除期望频道以外的干扰信号； 一点与发射器一样，它们消耗的功率必须很小。