工程类实验室玉林-CNAS检测机构

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工程类实验室玉林-CNAS检测机构工程类实验室玉林-CNAS检测机构
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

电源本身在工作时以及电子设备处于关工作状态时,都会在电源设备的输入端出现终端噪声,产生辐射及传导干扰,也会进入交流电网干扰其它的电子设备,所以必须采取有效措施加以。在EMI噪声的辐射干扰方面,电磁屏蔽是的方式。而在EMI噪声的传导干扰方面,采用EMI滤波器是很有效的手段,当然应配合良好的接地措施。在上各个 都实行了严格的电磁噪声限制规则,如美国有FCC,德国有FTZ,VDE等标准。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
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偶发异常测试在研发过程中,偶发异常是经常会遇到的情况,但是排查起来相当痛苦,因为偶发异常的不去确定性导致难以判断发生时间,同时异常波形的形状又无法确认,没法通过示波器触发出来。偶发异常可能一天若干次,也有可能一周若干次,而示波器存储深度小,无法记录。ZDL6示波 可选2T硬盘,记录波形 长可达5天,配备双捕获功能,长时间的趋势数据通常采用低采样率采集趋势数据,但突发的高度瞬态异常信号需要采用高采样率捕捉。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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电子元器件的降额等级可以参考《 标准——元器件降额准则GJB/Z35-93》,一般可分成三个降额等级:Ⅰ级降额:I级降额是的降额,适用于设备故障将会危及安全,导致任务失败和造成严重经济损失的情况。Ⅱ级降额:工作应力减小对元器件可靠性增长有明显效益,适用于设备故障会使工作任务降级,或需支付不合理的维修费用。Ⅲ级降额:Ⅲ级降额是的降额,相对来说元器件成本也较低。适用于设备故障对工作任务的完成只有小的影响,或可迅速、经济地加以修复。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

工程类实验室玉林-CNAS检测机构考古学是依据古代物质遗留以了解古代人类行为与当时社会文化的学问,分析研究古代遗迹,获取其丰富的潜在信息,探索古代人类社会历史以及人类与自然的相互关系。“科技考古”是2世纪中期出现的一个新的考古学派,利用自然科学和考古学的理论、方法和手段,分析研究古代实物遗存,获取丰富的“潜”信息,以探索人与自然的关系以及古代人类社会历史的科学。科技考古——X荧光光谱分析在考古研究中,X射线荧光光谱分析属于无损分析,主要是测定古物中的成分,从而达到各种分析目的,进而推断和判断当时的人类社会文化。

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