计量器具校准广元-计量公司

计量器具校准广元-计量公司计量器具校准广元-计量公司
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

此模式继承了普通模式的所有优点，且改善了水平时基较大时，波形输出太慢的缺点，故被称为大时基模式。小提示：当时基较小，边采样边输出是没有意义的，因为人眼跟不上刷新的速度，所以普通模式和大时基模式一般会根据水平时基自动切换。如ZDS2000系列示波器在水平时基大于等于100ms/div时，会自动进入大时基模式如.2所示。.2为了更好展示地边采样边输出，大时基模式还了与上一帧数据对比刷新，让您更好地观察输入信号的变化如.3所示。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
计量器具校准广元-计量公司

关于MOSFET很多人都不甚理解，这次小编再带大家仔细梳理一下，也许对于您的知识系统更加。下面是对MOSFET及MOSFET驱动电路基础的一点总结，其中参考了一些。在使用MOS管设计关电源或者马达驱动电路的时候，大部分人都会考虑MOS的导通电阻，电压等，电流等，也有很多人仅仅考虑这些因素。这样的电路也许是可以工作的，但并不是的，作为正式的产品设计也是不允许的。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

计量器具校准广元-计量公司

本文主要描述了如何解决基于超声波倒车雷达的辐射干扰测量问题。在 始的基于CISPER25第四类窄带辐射测量中，该设备在530KHz-2MHz这个频段测试没通过合规标准。此倒车雷达由一个带有蜂鸣器的控制器和两个雷达模块组成。接线主要包含连接控制器的主供电线缆以及控制器与两个雷达模块之间的通信及供电线缆。图一倒车雷达结构示意图以下是在暗室测量之后未通过界面的截图：未通过界面截图由图可见，红色线表示CISPER25第四类的模板限量，蓝色线表示实测谱线。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

计量器具校准广元-计量公司槽形关的检测距离因为受整体结构的限制一般只有几厘米。槽型光电传感器注意事项光电传感器不能于温度、湿度、杂散光、冲击等超过规场所，光电传感器有一定的场所，这些场所对传感器性能有很大的影响。传感器在水滴和油沫较多的场所避免或采用防护措施，否则它们会粘附在传感器光源和光电接收器的透镜上，不仅使光束散射，而且空气中的尘埃也容易被吸住，成为错误动作的原因。水蒸汽或尘埃多的场所避免或采取密封措施，水蒸汽或尘埃容易凝结在传感器的透镜面造成光通量衰减和散射。