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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

由于采用了现代测控手段，这些设备可以得相当精密，却因设备复杂，昂贵，运作费时费工，主要作为标准计量之用，其测量精度可达±2%RH-±1.5%RH。静态法中的饱和盐法，是湿度测量中 常见的方法，简单易行。但饱和盐法对液、气两相的平衡要求很严，对环境温度的稳定要求较高。用起来要求等很长时间去平衡，低湿点要求更长。特别在室内湿度和瓶内湿度差值较大时，每次启都需要平衡6~8小时。露点法是测量湿空气达到饱和时的温度，是热力学的直接结果，准确度高，测量范围宽。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
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CX-98直读光谱仪的快速测试使研发、生产过程和质量更可控，帮助用户提升产品的技术、质量水平；使相关流程加快，为用户创造明显的经济效益和环保效益。CX-98直读光谱仪已成为衡量企业技术和质量水平的标志性设备。光电直读光谱仪是分析黑色金属和有色金属成分的快速定量分析仪器。CX-98直读光谱仪广泛应用于钢铁、有色金属、冶金、机械、建筑、化工设备、质检系统等多种行业中材料分析。以及金属的冶炼工业的炉前分析及出厂鉴定分析。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

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汽车行业ADAS功能需求日益增长，防疲劳驾驶是一个热门方向，对于驾驶员状态的检测，人脸识别是基础，只有快速准确地识别到人脸，才能对人脸状态进行分析。本文将介绍基于S32V来实现人脸识别的应用。S32V视觉NXP于215始推出S32V，现在已经推出了第二代型号S32V234，第三代目前已经在样品阶段，该为ADAS视觉，了视觉系统应用所需的性能和功能。对于图像，S32V具有自己的特色：硬件方面：具有两路CSI和两路并口摄像头接口，了可图形化编程的ISP、APEX，以及3D渲染的GPU。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

仪器外校贺州-CNAS认证机构整流电路测试是教育课程及相关电子行业不可缺少的环节。以下波形由非隔离信号源产生。当使用非隔离信号源时，D1二极管的每一端分别与信号源和示波器的相应地线连接。这种方式会出现等电位短路，因此不能显示负半周整流波形。以下波形由隔离通道信号源产生。隔离信号源的输出信号地线不与示波器共同接地，因此可以模拟整流波形输出。只有隔离的信号源才能显示桥式整流电路的正确波形。为了实现上述实验目标，一些非隔离信号源的用户倾向于断电源线的接地，从而导致仪器浮地。