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“线性”也是PCB设计接收器时的一个重要考虑因素。由于接收器是窄频电路,所以非线性是以测量“交调失真”来统计的。这牵涉到利用两个频率相近,并位于中心频带内(inband)的正弦波或余弦波来驱动输入信号,然后再测量其交互调变的乘积。大体而言,SPICE是一种耗时耗成本的软件,因为它必须执行许多次的循环运算以后,才能得到所需要的频率分辨率,以了解失真的情形。
红外热像仪在安防监控领域的具体应用夜间及恶劣环境下监控在安防监控系统的应用中,到晚上可见光的 器材便不能正常工作,如果采用人工照明无疑容易暴露目标。这时我们如果有红外热成像仪就可以解决问题,红外热成像仪是被动接受目标自身的红外热辐射,它不受光照条件影响,无论白天黑夜都可以正常工作并且不会暴露自己。同样的如果在雨雾等恶劣的气候环境下,可见光由于波长较短,克服障碍的能力差,观察的效果就会大打折扣,但红外热成像仪利用的是红外线原理,红外线波长较长,穿透效果好,即使在雨雾的恶劣环境下仍然可以正常观测。
电子负载常用于在电源或其他电能转换设备的产品设计和生产试验中,包括电机驱动器和逆变器。负载一般有两种形式:由功率电阻组成的基础负载和使用主动电路用以动态模拟负载变化的电子负载。负载常用于老化测试进而确定产品早期故障,作为生产测试的一个重要环节。电子负载常被整合到自动测试系统中。测试报告要么被存在本地或者通过电脑接口上传,这样测试数据可以被进一步或用于存档。对于多数电子负载而言,他们的通就是占空间,消耗大量电能,产生热量和噪音。
而基于成像光度测量灯具光强分布的研究由于更加复杂,精度难以提高,目前仍处于研究阶段。灯具的分布光度测量是灯具设计和照明设计中质量控制的重要环节,尤其是随着LED等新光源和新兴照明技术的发展,对灯具分布光度测量提出了新的挑战。因此我们根据目前发展状况及需求,进行基于成像光度法的LED光强分布测试的分布光度计研制。目前国内灯具市场产品质量良莠不齐,每年有大量新款灯具涌入市场。其实际照明效果的评估往往得不到有效评估。
相位噪声指标对于当前的射频微波系统、通信系统、雷达系统等电子系统影响非常明显,将直接影响系统指标的优劣。该项指标对于系统的研发、设计均具有指导意义。相位噪声指标的测试手段很多,如何能够 的测量该指标是射频微波领域的一项重要任务。随着当前接收机相位噪声指标越来越高,相应的测试技术和测试手段也有了很大的进步。同时,与相位噪声测试相关的其他测试需求也越来越多,如何准确的进行这些指标的测试也愈发重要。
如果放电速度过慢,就会出现通信问题。解决方法:增加终端电阻。CAN收发器结构示意图2.组网节点数少,通信正常,增加节点后,通信异常。可能原因:总线电容过大。总线电容过大会影响CAN差分波形上升下降速度,如。解决方法:a.检查CAN节点接口的外围电路,是否有外加电容、TVS管等器件,适当去除,以降低电容;降低工作波特率。波特率降低可以延长位时间,减小电容的影响,但若电容过大,则不一定有效。总线电容影响波形图3.应用中易损坏,更换模块后正常。
按照存储芯片MicroSD卡供电要求的范围:2.7V-3.6V;不允许超出此范围,否则,芯片在不稳定的电压下工作会有比较大的风险,甚至会对卡片的正常工作带来影响。首先需要考虑的是示波器的设置,究竟是否需要进行20MHZ的带宽限制?详细的使用环境如下图所示:如何去测试“高频关电源”噪声IPAD刚引出来的那个端口可以当电源的源端,而通过后端的外围模块后在末端进行测试的时候,电源通过了一段PCB走线,包括一些芯片回路,应该存在高频的噪声,如果采用20MHZ的带宽限制,实际上是将原本属于模块的噪声给滤掉了,为此,我们进行了对比测试进行验证:步,我先验证IPAD的供电端在工作时的输出,如下图:通过直接验证IPAD的输出口的电压,保证源端的供电是正常的;通过测试,我们发现在源端测量的电压值在3.4V(500MHZ带宽测量)左右,峰峰值29mV,是非常稳定的供电;可以排除源端供电的问题,接下来,我们直接在通过整个模块后在MicroSD卡的供电脚SDVCC对电压进行测量,如下图:当我们在图片上的点进行测试的时候,发现在高频关电源上有相当大的噪声,使得电压超出了规范要求的范围,值达到了3.814V,峰峰值达8mV;但当我们将示波器设置为20MHZ带宽的时候,高频关电源变的非常好,完全在供电要求的范围内;正如在本文头描述的,在本次高频关电源测试过程中,已经不是高频关电源纹波测量,而应该是噪声。


