测试仪表校正南京-校准单位

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

偏光仪首先,翡翠的晶体结构可以采用偏光仪进行检测。这是一款结构简单、操作方便的常用宝石鉴定仪器,对鉴别均质体、非均质体和集合体具有重要的作用。真翡翠在偏光仪下不会消光,呈现全亮。硬度计用硬度计考察翡翠的硬度。一般来说,翡翠的摩氏硬度在6.5-7.5,比玻璃硬得多,所以使用硬度计可以轻松辨别出用玻璃冒充的翡翠。电子天平不过,目前所有检测硬度的技术都是有损鉴定,成品翡翠的鉴定是很少会用到硬度检测的。相比之下,无损的密度检测更适用于成品翡翠的鉴定。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
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电子元器件的降额等级可以参考《 标准——元器件降额准则GJB/Z35-93》,一般可分成三个降额等级:Ⅰ级降额:I级降额是的降额,适用于设备故障将会危及安全,导致任务失败和造成严重经济损失的情况。Ⅱ级降额:工作应力减小对元器件可靠性增长有明显效益,适用于设备故障会使工作任务降级,或需支付不合理的维修费用。Ⅲ级降额:Ⅲ级降额是的降额,相对来说元器件成本也较低。适用于设备故障对工作任务的完成只有小的影响,或可迅速、经济地加以修复。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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分别用于钢板温度和区域的测量,将测量的数据进行模/数转换发送到器进行数据和计算,然后通过WCA软件进行分析、显示和存储。设备构成如所示:(:扫描式测温仪的设备组成)测温探头的及主要参数测温探头在辊道上方,垂直向下扫描,其测量范围为(3-9)℃,内部灰度系数的可调范围为.2-1.,根据测量钢板的材质要求及水汽环境等的影响因素,我们一般选为.75-.85;当探头在不易随时维护的位置或环境中时,就需要用远程控制来修正灰度系数,通过输入(4-2)mA信号进行远程控制。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

测试仪表校正南京-校准单位在实际应用中,导线的电阻会产生电压压降,导致达到负载端的电压与实际需求电压不符,影响测试度,这种情况在自动化测试体系中是 常见的。为了弥补这一点,就需要在可编程电源中用到远端测量功能来补偿导线上的压降。全天科技的可编程直流电源就有此项功能,具有更高的安全性,操作也很简便。在理想的状况下,电源和负载之间的导线连接是不存在电阻的。然而事实上,导线的电阻会跟着导线的长度和导线规格而增大。当产生回路电流流过导线时就有可能产生电压压降,从而导致负载端的电压比预期电压要低。

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