计量器具校正湖北-校验公司

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  • 公司名称:广东省世通仪器检测有限公司
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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

系统描述AOI是检测PCB表面图形品质(如表面缺陷、断路和短路)的设备,用于生产过程中半成品品质检测,是高精密单层印制板,尤其是多层印制板的关键技术。测试系统集光学、精密机械、识别诊断算法和计算机技术于一体。检测时,机器通过电荷耦合器件(CCD)或激光自动扫描PCB,采集图像后送与计算机,再与数据库中的标准数据比较,查出PCB上缺陷,用显示器或自动标识系统显示或标识缺陷,供维修人员修理。项目产品清单主控设备:研祥EPI整机IPC-685E该主控设备的主板是一款采用IntelG41芯片组,支持IntelLGA775封装双核、四核E53、E84、Q94等系列CPU的高性能;支持2条8/166M的DDR3内存条,总容量支持4GB;板载1个1/1/1Mbps网络接口;支持VGA+VGA双显示功能;支持4个SATA接口;USB2.接口、2个串口(其中1个 1个并口等丰富的I/O接口。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
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MEMS麦克风的高品质主要是受到消费电子市场需求的驱动而发展。在设计高品质声级计时也需要考虑它们的特性。注:声级计是 基本的噪声测量仪器,它是一种电子仪器,但又不同于电压表等客观电子仪表。在把声信号转换成号时,可以模拟人耳对声波反应速度的时间特性;对高低频有不同灵敏度的频率特性以及不同响度时改变频率特性的强度特性。声级计是一种主观性的电子仪器。MEMS是一种微型机电系统,采用与微电子电路相同的材料(通常是硅)和蚀刻技术进行(见)。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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在CAN总线中,错误帧虽然不被接收,但是依然占用总线传输时间,所以导致其他正常节点发送延迟或者无法发送,影响整车CAN总线正常运行环境。解决方案:主机厂必须要求节点C的工作电压必须要工作在1.8V,乃至2.0V,这个问题便得以解决。错误帧占用总线波特率不一致导致CAN网络系统死机位时间(位宽)和波特率是CAN总线通讯的 基本要素。位时间=1/波特率,比如波特率是500k,那位时间是2us。在相同的CAN总线采样频率下,当某一个节点的位时间发生抖动时,即位时间为1.8us或者2.2us,将导致采样点的逻辑判断出现异常,出现总线错误,导致CAN网络系统死机。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

计量器具校正湖北-校验公司是全实物测试,将待测装备置于演习或实际 ,利用实际存在的复杂电磁环境对装备性能进行测试。此种方式 说服力,通常作为成熟型号武器装备的 终测试方法。因为此方式成本极高、风险大,很多场合是破坏性测试,并且所得到测试结果不具备遍历性,无法满足装备研制过程中的绝大多数的常规测试需求。第二种是基于计算机、数据库等技术的全数字测试。这种技术是通过数据采集或者数学建模的方式,将实际电磁环境的主要特征信息以数字格式存储于数据库中,在某种特定算法的驱动下,对待测装备的性能进行全数字测试。

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