计量器具校准延安-验厂

计量器具校准延安-验厂 计量器具校准延安-验厂
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

尽管IEC60601-1第2版涵盖了“基本性能”，不过第3版将其进一步详细定义为“为避免不可接受的风险所必需的性能”。商负责确定性能或功能的丧失会导致可接受的风险还是不可接受的风险，具体通过确定事件发生的概率或频率以及事件的严重程度来分析。如果设备的性能或功能丧失会对患者、操作人员或环境造成损害，则归类为不可接受的风险。举例来说，如果测量血糖水平的式电池供电仪表由于部件发生故障而停止工作，则这种情况是可接受的风险。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
计量器具校准延安-验厂

日置的微电阻计RM34带有温度补偿功能和缩放功能，因此可以通过提前输入测试片的长度、横截面积的方式，直接读取体积电阻率。若是使用温度补偿功能，还可以换算成标准温度中的体积电阻率来显示。在评估金属材料和导电性材料时，并不是使用电阻值，而是使用体积电阻率。通过微电阻计测量的电阻值来计算求得体积电阻率是一件很费工时的事情。微电阻计RM34因为有缩放功能，而且可以显示各种各样的单位，所以可以直接读取体积电阻率。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

计量器具校准延安-验厂

RBW所代表的意义为两个不同频率信号所能够被清楚分辨出来的频宽差异，因此两个不同频率信号的频宽如果低于频谱分析仪的解析频宽，如此两信号将会重叠而无法分辨。如此看似更低的RBW将有助于不同频率信号的分辨与量测工作，然而过低的RBW有可能将较高频率的信号给滤除掉，因而导致信号显示时产生失真。较高的RBW当然有助于宽频信号的量测，然而却可能增加杂讯底层值（NoiseFloor）、降低量测灵敏度，并对于侦测低强度的信号容易产生阻碍。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

计量器具校准延安-验厂 您是否还在寻找一款可以帮助您按照HACCP要求监控巴氏杀菌、高温以及冻干过程的解决方案，而且是一个具有潜在的流程，节省时间和金钱的方案？如果是这样的话，testo191HACCP数据记录系统将会是您的正确选择。数据 在空间内的创新多功能探头测量探头可不同设计并根据客户要求进行调整。灵活的高度根据测量任务，您可以通过电池调整数据 高度，有两种尺寸的电池可供选择。可靠的密封数据 即使在更换电池后仍可保持1%密封。