测试设备校准盐城-校准机构

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测试设备校准校准机构我们选用的PLC为台达公司的DVP32EH,附加8路AD和DA模块,使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序,程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、阀门、加热关等的逻辑控制,数据的读出和写人以及其他相关功能。

日常我们使用示波器的捕获模式,一般都只用默认的标准捕获模式。但捕获模式有哪些?各自对采样点的方式你了解多少呢?每一种模式适用于哪种波形呢?本文将对比分析这些模式的特点,会让你有不一样的发现。其实在测量波形时,对一些具有某种特征的信号的测量是需要选择合适的捕获模式的,这里以ZDS40Plus示波器为例,分享示波器几种捕获模式的原理和特点及其合适的应用场合。在示波器前面板上按下Acquire键,在捕获模式菜单中可以看到其包含4种捕获模式:标准、峰值、平均和高分辨率。
3、传感器的仪器校准实验
(1) 仪器校准实验过程
传感器的校准实验是为了测试高温微压力传感器在不同温度环境下,尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性,进而根据实验数据对传感器进行仪器校准,使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。
仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系,并以此对传感器进行校准,对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验,测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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此外,SpectrumView还支持多通道频谱测试,这得益于TEK049支持同时对每个通道的信号作频谱分析。同时观测两个通道的时域波形及频谱TEK049的多通道时域波形显示方式,所的频谱既可以“堆栈(Stacked)”显示,也可以“重叠(Overlay)”显示。同时观测了两个通道的时域波形及频谱,并且采用了重叠显示,以便于频谱之间的对比。所有通道的频谱共用相同的Span、RBW、FFTWindow及SpectrumTime,这一点与时域要求多通道间共用采样率、水平时基及触发类似。
如果不符合要求则需要重新校准,结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷,需要进一步优化设计。
由上述可知,传感器的校准需要大量的实验,受篇幅所限在此不多赘述,故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能,目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。
(2) 实验结果
调节载荷室温度至30℃,保持温度恒定的同时逐步增大压力,记录反射光波长,反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃,重复上述实验。实验数据如表1所示。
经过计算,在30℃温度环境下,传感器非线性为1.77%,重复性为1.31%,综合精度为3.07%;而在250℃高温环境下,传感器非线性为3.05%,重复性为2.07,综合精度为5.12%。以上结果表明,温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响,整体性能也有所降低。此外,通过此次仪器校准实验,很好地验证了该校准实验系统的使用性能,在实验过程中,载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内,压力调节方便可靠,能较快地达到设定气压值,并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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MOX传感器MCM设备的组成。测试系统需求为了测试这些设备,测试系统需要具备以下功能和属性:测试/校准MOX传感器的时间可能需要几十分钟。由于需要在真空和目标气体“浸泡”传感器,所以需要很长的“soak”时间。显然,使用大型、高性能的半导体测试仪,在soak期间需要闲置一段时间,这样不能有效的利用这些昂贵的资源。所以,解决方案必须具有较低的初始资本成本。测试吞吐量很重要。由于驻留时间长,因此系统必须支持非常大的并行测试能力,这样才能将soak时间内分摊到多个设备上DUT负载板必须位于一个可以对气体浓度进行控制的封闭环境中。
综上所述,该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利,很好地满足了实际需求,达到了设计要求。
4、结束语
通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理,设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统,在地面实验室模拟了传感器实际测压环境,实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明,该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求,是一个稳定可靠、安全便捷的测试,为下一步传感器的仪器校准工作了保障。

测试设备校准盐城-校准机构 终,一个为多家汽车厂商子部件的厂家就有可能必须根据不同的标准,采用不同的方法,在同一个频率范围内测试同样的部件。为了满足客户的测试需求,部件厂商可以采用一系列针对ISO11452和SAEJ1113中包含的RF测试规范而设计的汽车部件测试系统来帮助完成工作。这些测试系统通常都是自含(self-contained)系统,遵循所有标准中规定的级别测试规范。采用这样的系统之后,部件厂商在对多个标准进行测试时,用到的许多测试仪器都是相同的,因而能节省大量资金。

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