测试仪器检验宜春-CNAS检测机构

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

GLTE时代的测量由于MIMO的引入而变得更加复杂，3GPP标准委员会采纳了两种测量方式：多探头法，辐射两步法，这两种方案都可以测量UE在衰落信道下的吞吐量指标。MPAC所需的基本设备包括吸波暗室，无线测试，信道模拟器，多组探头天线及转盘；RTS测量方案所需的基本设备包括吸波暗室，无线测试，一组探头天线，衰落信道由UXM内部的通道模拟器实现。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
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直流电子负载定义GBT29843-213直流电子负载通用规范中对直流电子负载的定义是：能吸收直流电能，并将吸收的直流电能耗散、储存或回馈电网的一种电子电路装置，该装置所吸收的电流大小可以调节或设置，其端口输入特性符合欧姆定律。电子负载，顾名思义，是用电子器件实现的“负载”功能。具体地说，电子负载是通过控制内部功率器件MOSFET或晶体管的导通量，使功率管耗散功率，消耗电能的设备。电子负载类似于可以拉载电流的输入设备，如同一个可编程的功率电阻。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

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在大多HIL系统中一个关键组成部分是自动故障，PickeringInterfaces看到了用于多数量IO的ECU测试的高密度故障注入关需求越来越大，尤其在自动化和航天工业方面。BobStasonis先生继续谈到：Pickering经常根据客户的需求将关密度到极限，高密度关模块的新趋势包括日益增长的带宽需求和在一些市场尤其是半导体工业上，对隔离电阻的验证。目前，我们平均的隔离电阻规范为10^9Ω。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

测试仪器检验宜春-CNAS检测机构有效控制电子设备启动浪涌电流不仅有利于提高电子设备使用寿命，而且能降低对周围的电子设备干扰影响，量测和改善电子设备启动浪涌电流是电子设备研发和验证过程中不可或缺的环节。量测电子设备启动浪涌电流的电网条件通常是标称交流输入电压值的峰值。电子设备交流输入1-24V（有效值）,输入电压24V（rms.）的峰值电压为34V(peak)。也就是实验过程中需要一台能改变电压和相位的交流电源作为待测物（电子设备）的电网输入源。