计量器具校准怀化-认证公司

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

两类方法适用于不同类型的风口，测量方法选择不当是造成结果差异大的可能原因。直接法测量，顾名思义，即通过风量罩直接测得风量值。适用性较广，尤其是出风口气流分布不均匀（散流、旋流等）的场合。但须注意风量罩对适合测量的风口有尺寸限制（风口尺寸较风量罩尺寸不可过大或过小）。间接法测量，通过风速仪测得风速值，再通过计算得出风量值。间接法测量对出风口气流分布要求较严格（即气流分布尽量均匀）。在风口气流分布较均匀的场合，直接法与间接法测量结果大致接近。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
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操作气泡水平仪、铅锤和粉笔等传统工具通常需要至少两个人。借助福禄克激光水平仪，一个人就能在地面上量出一个网格图，并将点传送到天花板，从而确保器具。这可程度减少攀爬梯子或升降梯的次数，并节约时间和降低风险。过去花几个小时，现在只需几分钟，这使您的工作更更。有时需要帮助才能找到问题的根源即使您眼力出色，要在充满灰尘或阴暗的环境里看清一条粉笔线也并不容易。如果环境又潮又湿，粉笔线很可能会消失。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

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有必要采用一些其他方法来提高传导EMI的性能。本文主要讨论的是引入输入滤波器来滤除噪声，或增加屏蔽罩来锁住噪声。EMI滤波器示意简图是一个简化的EMI滤波器，包括共模（CM）滤波器和差模（DM）滤波器。通常，DM滤波器主要用于滤除小于30MHz的噪声（DM噪声），CM滤波器主要用于滤除30MHz至100MHz的噪声（CM噪声）。但其实这两个滤波器对于整个频段的EMI噪声都有一定的作用。显示了一个不带滤波器的输入引线噪声，包括正向噪声和负向噪声，并标注了这些噪声的峰值水平和平均水平。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

计量器具校准怀化-认证公司严防死守数据关每天检查那么多电池，测试数据一旦丢失，对于工作人员来说简直是噩耗。不过，有了福禄克，这些问题完全不用担心，通过无线功能可以发送和查看电池分析仪中的测试结果，对历史检测数据一目了然。这几款产品已经用在了某路地铁的实际检修中：在检测中，工程师对在同一个电池柜中的15节电池进行了测量，准确，省时省力。并且，地铁的运维人员对BT521的档案测试以及管理软件也非常认可。可以实现复杂的数据管理，并能对历史检测数据一目了然，便于长期跟踪。