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同时导致波形存储变长,响应变慢;FFT输入样点变多也会严重影响响应速度;需要手动控制采样深度,采样率等等;很难用频谱缩放展示频谱范围。”这些问题都让我越发头疼,如何才能解决这些问题呢?泰克新推出的4系列MSO
示波器的SpectrumView功能可以 解决这些问题。-专利采样技术使得时域频域控制互不干扰,比传统FFT更易用-可以在两个域同时从不同角度观测信号-观测频域信号在时间轴上的变化-分析信号/事件在频域和时域上发生时的相关性多通道分析测试频谱应用过程中,SpectrumView与频谱仪FFT模式下的数据过程相同,虽然测试动态不如频谱仪,但是SpectrumView有着自己的优势,比如可以测试极低频率的信号,具有丰富灵活的探测方式,以及时频分析的相关性。
示波器发展到现阶段,已经不仅仅是在调试中观察波形,更重要的是能很好的测量一些参数帮助大家优化设计方案。示波器的测量方法大致有三种:刻度测量;光标测量;自动测量。刻度测量就是根据波形所占格数进行估测,估测的准确度当然是比较低的,只适合定性分析。要测量的话,还需要从光标测量和自动测量两种方式中选择。那么,哪种测量方式测的结果更准确呢?首先,我们从原理上来了解一下光标测量和自动测量。光标测量,光标测量的原理很简单,以ZDS2024plus为例,打Cursor键一键光标,然后用光标卡住波形,光标X1和X2,Y1和Y2之间的差值即为测量值。
TS-96e-5G的设备接口板(DIB)/接收器接口几乎兼容任何设备器。:TS-96e-5G界面板对于量产测试,系统配置EPSONNS-84设备,该产品具有高稳定性,易操作维护等特点,可以进行多种封转形式芯片的测试工作。:EPSONNS-84软件部分ATE中软件的执行环境为ATEasy,可以轻松完成测试程序的编写和执行管理工作;同时配有
ICEasy半导体测试软件包;DIOEasy-Fit:pattern转换和导入工具;GtDio6xEasy:pattern编辑工具;VNA,VSA测试套件:可以进行频谱,时序显示及统计,数字调制分析等工作。
同时通过长时间高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露出来。
电源模块常见的低温和高温 的现象有:工作振荡,输出电压纹波和噪声变大,频率发生改变,严重的甚至输出电压跳变,模块啸叫。启动 ,如启动时输出电压升上波形有明显掉沟,输出电压不稳定,甚至模块完全启动失效。带容性负载能力减弱,无法带容性负载启动。启动时输出电压过冲幅度变大,超出规定范围。
FFT功能在示波器普及率高,易获取。可以实现时域、频域联调功能,还具备高采样带宽。随着测试要求与测试信号的复杂程度的提高,在利用FFT进行频谱分析时,遇到了很多问题。-FFT测试需要通过调整水平时基来改变RBW,在要求RBW很小的测试场景,需要增大水平时基,严重影响了示波器速度;-操作不直观;-无法在时域频域同时获得的信号呈现;-动态范围有限;-……“我在高分辨率的情况下,观测更高频率的信号时会发现,采样率提高,导致采样时间受限,无法捕获
其它感兴趣的信号/事件。
数字通信始快速发展,射频功率测量的重点也始有些变化。因为数字调制信号(如下图)的包络无规律可循,其和电平会随机变化,而且变化量很大。为了描述这类信号的特征,引入了一些新的描述方法,如领道功率、突发功率、通道功率等。很多传统的功率计已经无法满足数字信号功率的测量要求,一部分功率测量的任务已经始由
频谱分析仪来完成。下面我们介绍常见的几种射频功率测量方法,在此之前我们还需要明确一件事——在频域测试测量中,为什么习惯以功率来描述信号强度,而不是像时域测试测量中常用的电压和电流?那是因为在射频电路中,由于传输线上存在驻波,电压和电流失去了性,所以射频信号的大小一般用功率来表示,通用的功率单位为W、mW、dBm。
了解ADC在系统中的误差意味着,设计人员必须了解要采样的信号的类型。信号类型取决于如何定义转换器误差对整个系统的贡献。这些转换器误差一般以两种方式定义:无噪声代码分辨率(表示直流类信号)和“信噪比等式”(表示交流类信号)。由于电阻噪声和“kT/C”噪声,所有有源器件(如ADC内部电路)都会产生一定量的均方根(RMS)噪声。即使是直流输入信号,此噪声也存在,它是转换器传递函数中代码跃迁噪声存在的原因。