◆ 规格说明:
产品规格 |
齐全 |
产品数量 |
5555 |
包装说明 |
电议 |
价格说明 |
电议 |
◆ 产品说明:
轻工实验室恩施-计量公司轻工实验室计量公司
轻工实验室计量公司我们选用的
PLC为台达公司的DVP32EH,附加8路AD和DA模块,使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序,程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、
阀门、加热关等的逻辑控制,数据的读出和写人以及其他相关功能。
基于同样的原因,在
电源测量中也应该尽量使用1:1的探头而不是
示波器标配的10:1的探头。否则示波器的噪声也会被放大。探头带来的噪声是在在衰减器前面耦合进来的,因此无论衰减比设置多少,探头贡献的噪声都是一定的。在某些不正确的使用方法下,探头可能会带来额外的噪声,一个典型的例子就是使用长地线。为了方便测试,示波器的的无源探头通常会使用10cm左右的
鳄鱼夹形式的长地线,但是这对于电源纹波的测试却是不适用的,特别是板上存在关电源的场合。
(1) 仪器校准实验过程
传感器的校准实验是为了测试高温微
压力传感器在不同温度环境下,尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性,进而根据实验数据对传感器进行仪器校准,使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。
仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系,并以此对传感器进行校准,对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验,测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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判断激光粒度
分析仪的优劣,主要看其以下几个方面:粒度测量范围粒度范围宽,适合的应用广。不仅要看其仪器所报出的范围,而是看超出主检测器面积的小粒子散射0.5μm如何检测。的途径是全范围直接检测,这样才能保证本底扣除的一致性。不同方法的混合测试,再用计算机拟一张图谱,肯定带来误差。激光光源一般选用2mW
激光器,功率太小则散射光能量低,造成灵敏度低;另外,气体光源波长短,稳定性优于固体光源。检测器因为激光衍射光环半径越大,光强越弱,极易造成小粒子信噪比降低而漏检,所以对小粒子的分布检测能体现仪器的好坏。
如果不符合要求则需要重新校准,结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷,需要进一步优化设计。
由上述可知,传感器的校准需要大量的实验,受篇幅所限在此不多赘述,故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能,目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。
(2) 实验结果
调节载荷室温度至30℃,保持温度恒定的同时逐步增大压力,记录反射光波长,反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃,重复上述实验。实验数据如表1所示。
经过计算,在30℃温度环境下,传感器非线性为1.77%,重复性为1.31%,综合精度为3.07%;而在250℃高温环境下,传感器非线性为3.05%,重复性为2.07,综合精度为5.12%。以上结果表明,温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响,整体性能也有所降低。此外,通过此次仪器校准实验,很好地验证了该校准实验系统的使用性能,在实验过程中,载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内,压力调节方便可靠,能较快地达到设定气压值,并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
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关电源已经深入到国民经济的各个行业当中,设计师或是自行设计电源或是购
电源模块,但是这些电源都离不电源的各种电路拓扑。本文先介绍了关电源的三大基础拓扑:Buck、Boost、Buck-Boost,并就这三者拓扑之间进行了简单地组合,得到了非常巧妙的电路,:正负输出电源、双向电源等,能够满足诸如运放供电、电池充放电等某些特殊的需求。关电源基础拓扑关电源三大基础拓扑为:Buck、Boost、Buck-Boost,大部分关电源都是采用这几种基础拓扑或者其对应的隔离方式,下面以电感连续模式进行简单介绍。
综上所述,该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利,很好地满足了实际需求,达到了设计要求。
4、结束语
通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理,设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统,在地面实验室模拟了传感器实际测压环境,实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明,该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求,是一个稳定可靠、安全便捷的测试,为下一步传感器的仪器校准工作了保障。
轻工实验室恩施-计量公司FFT功能在示波器普及率高,易获取。可以实现时域、频域联调功能,还具备高采样带宽。随着测试要求与测试信号的复杂程度的提高,在利用FFT进行频谱分析时,遇到了很多问题。-FFT测试需要通过调整水平时基来改变RBW,在要求RBW很小的测试场景,需要增大水平时基,严重影响了示波器速度;-操作不直观;-无法在时域频域同时获得的信号呈现;-动态范围有限;-……“我在高分辨率的情况下,观测更高频率的信号时会发现,采样率提高,导致采样时间受限,无法捕获
其它感兴趣的信号/事件。