测试设备校正滁州-外校单位

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

从事测试测量系统集成的朋友都不少遇到过噪声干扰的问题，强电弱电混合系统往往存在各种杂讯，在强干扰环境下保证测量仪器的精度并非易事。本文将介绍一个噪声干扰排除的简单实例，来与大家分享一些经验，欢迎留言探讨。问题背景客户使用我们的功率分析仪（PA）搭建伺服电机测试，系统分为驱动器柜、电机、测控柜3个分离的机柜。PA于测控柜内，驱动柜驱动器输出通过电缆连接到电机，电机转轴上扭矩传感器，传感器所有连接线引到测控柜，由柜内电源供电，传感器输出信号接入PA电机测量单元扭矩BNC接口。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
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常用的工业红外热像仪，其工作波段通常在8-14μm的长波波段，温度范围一般在-20-600℃以内。红外热像仪是一种新型的光电探测设备，可将被测目标表面的热信息瞬间可视化，快速故障，并且在专业的分析软件的帮助下，可进行分析，完成空调设备的供电设备、压缩机、管道、出风口等检测工作，保证空调能够，持续的运行。热像仪由两个基本部分组成：光学器件和探测器。光学器件将物体发出的红外辐射聚集到探测器上，探测器把入射的辐射转换成号，进而被成可见图像，即热图。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

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网络覆盖质量严重影响功耗当覆盖较差时，通过多次重发提高通信成功率，但会延长发送时间，从而引起功耗增加，尽量避免长期在覆盖等级2状态下时工作。根据PSM特性优化网络通信协议当覆盖较差时会出现多次重发，如果一直保持连接状态，如果有多组上下行交互数据，则相当一部分功耗浪费在等待，此时可以进入Idle状态等待，以降低功耗。远程阀控PSMeDRX由于不能实现网络唤醒，暂时不能实现实时下行，eDRX的静态功耗较高，PSM频繁重连耗电也较高；必须由终端触发上行后才能间接实现下行，充值时要求用户按下按键。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

测试设备校正滁州-外校单位冶金电气设备主要有以下几点特性：抗污染性。因为冶金领域需运用数量较多的钢铁，因此在冶炼环节里面会形成非常多的粉尘，其间含有较多的导电性粉尘，其便代表此领域的电气设施需具备一定的抗污染性。抗干扰与抗振性。电气设备是一种电子设备，然而只要是电气设施便需具备相应的抗干扰与抗振性，因此冶金领域的电气设施同样需要具备此特性。从冶金工业层面而言，现场需运用较大规模的电炉与轧钢系统，此设施在传动与供电环节便会产生较多的对控制系统于设施造成影响的谐波，因此其需要具备一定的抗干扰与抗振性。