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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

电源是保障电子仪器正常工作的装置，因此对于电源各项性能指标都有严格要求。随着电子设备对电源的要求不断变化，电源对于测试仪器及技术的要求也越来越高。本文着重对多路输出电源和大功率电源测试进行阐述，分析多路电子负载在这两种电源测试中的优势。电源是向电子设备功率的装置，因此电源的稳定和可靠直接关系到电子设备是否能正常运转。随着电子技术的发展，电子设备的外观、用途等不断变化，这也直接导致对其供电设备的要求不断提高。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
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其次检测接闪器的高度、材料规格、位置(易遭雷击部位有无)、防腐措施、连接形式与质量等。另外还要检查建筑物顶部接闪器、建筑物顶部外露的其他金属物体、引下线是否电气贯通;检查接闪器上有无附着的其它电气线路;检查架空避雷线、网与被保护物距离是否符合要求等。接地电阻检测。在测定电阻时须先估计电流的大小,选出适当截面的绝缘导线,在预备试验时可利用可变电阻r调整电流,当正式测定时,则将可变电阻短路,由安培计和伏特计所得的数值可以算出接地电阻。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

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复杂系统的调试和验证面临许多测试技术挑战，包括捕获和可视化多个不频繁或间断出现的事件，如串行数据包、激光脉冲和故障信号。为了准确地测量和表征这些信号，必须在长时间内以高采样率捕获它们。示波器的默认采集模式因为其有限的记录长度会强制在采样率和捕获时间进行妥协。使用更高的采样率可以更快地填充仪器的内存，减少数据采集的时间窗口。相反，捕获长时间的数据通常是以牺牲水平时间分辨率(采样率)为代价的。Fastframe?分段存储模式让您不用再从定时分辨率与捕获时间之间选择。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

仪器外校桂林-检测公司正是由于这种结构的引压方式，正压侧和负压侧同时保证了容器内的温度和汽包基本相近，容器内的饱和水的密度也就十分的接近汽包内的饱和水，使汽包水位测量大大减小了误差，符合生产工艺的操作要求。位的差压量程计算实际汽包液位的计算主要是针对平衡容器内正负压差压的计算。首先，要确定汽包的正压侧是在连通器的水平引压的位置，连通器水平引出端接差压变送器的正压室。其次，确定汽包的负压侧是在基准杯下端引出的引压管接差压变送器的负压侧。