计量器具校正铜川-审厂

计量器具校正铜川-审厂 计量器具校正铜川-审厂
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

电感器的集成不仅减小了关节点的面积，还可以更轻松地实现布局。新型DC/DC转换器的关频率显著提高，因此可以使用小型片式电感器和陶瓷电容器，使得DC/DC转换器成为外形的选择。新型LMZM2361电源模块将DC/DC转换器、电感器、Vcc滤波电容器和升压电容器集成到一个3mm*3.8mm*1.6mm的封装中。这样可以36V的输入电压，并将电压从15V降至2.5V(固定5V和3.3V可选)，同时输出电流高达1A。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
计量器具校正铜川-审厂

全天科技可编程交流电源采用当前 电源DSP+CPLD控制技术，强化内部的数据与逻辑运行能力，控制更快，产品运行更稳定。快速设定与读取各种波形，支持远程软件升级更新，能够生成各种波形用于分析，自带的PLDTesting功能更是为测试了便利。PLDTesting包括ListMode/PulseMode/StepMode，可根据所需的测试条件来选择对应的测试模式。ListMode可编辑5个List文件，使用时可对List进行命名，每个List中，能对输出波形的起始电压、结束电压、角度、波形以及运行模式等参数进行设置，可根据需求灵活设置参数，从而模拟各种干扰条件下电网/电源的输出波形。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

计量器具校正铜川-审厂

如果没有回路，必须借助辅助地极和测试线也可以测出它的接地电阻值。正确机按下钳表的POWER按钮后，钳表即处于机自检状态。待液晶屏上显示“OLΩ”后，自检状态结束。如钳表未能显示“OLΩ”，请按动钳表手柄，让钳口张合两次重新机。当按下POWER按钮后到液晶屏显示“OLΩ”的这段时间内（自检时间约1秒），钳表不可钳绕任何金属导体，不能翻转钳表，亦不可压按钳表的手柄和钳口，应使钳表处于自然闭合的静止状态。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

计量器具校正铜川-审厂 理想差分传输线不会传输幅度相等相位相同的信号，即共模信号，对共模干扰有很好的作用。实际上差分传输线输入和输出的信号都不可能是理想的，输入和输出信号中都有以地为参考的共模信号存在。由差模信号激励得到共模信号的工作模式称为“差模/共模”模式。如果输入信号中含有共模信号，同样也会激励得到差模和共模信号，对应的工作模式分别为“共模/差模”和“共模/共模”模式。其中“共模/差模”模式会在输出的差模信号中引入噪声，于是差分传输线由共模信号激励产生差模信号的能力将是判断一个该器件性能优劣的重要指标。