测试仪器外校恩施-第三方公司

测试仪器外校恩施-第三方公司测试仪器外校恩施-第三方公司
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

平常我们在电机试验时，往往会通过测试设备获取电机的曲线图表来进行分析。但这曲线图表也有不同的种类，分别适用于不同的场合。根据电机试验项目的不同，一般会获得不同的测试结果图表。这些图表可以根据涉及的电机参数变量，简单划分为三种：“一维”/“二维”/“三维”图。“一维”的数据实时显示曲线图在电机测试中使用比较常见的，就是数据实时显示曲线图。该图显示的，是电机的某一参数量（常见的是转速、扭矩或电流），与时间轴之间的关系，代表随着时间变化，电机参数的变化情况。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
测试仪器外校恩施-第三方公司

瞬态温度响应曲线包含了热流传导路径中每层结构的详细热学信息（热阻和热容参数）。应用实例1.如何利用结构函数识别器件的结构LED的一般散热路径为：芯片-固晶层-支架或基板-焊锡膏-辅助测试基板-导热连接材料如下面结构函数显示，结构函数上越靠近y轴的地方代表着实际热流传导路径上接近芯片有源区的结构，而越远离y轴的地方代表着热流传导路径上离有源区较远的结构。积分结构函数是热容—热阻函数，曲线上平坦的区域代表器件内部热阻大、热容小的结构，陡峭的区域代表器件内部热阻小、热容大的结构。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

测试仪器外校恩施-第三方公司

但是本身的仪器原理也包含了终将会被时代抛弃的硬伤。大抵有以下几条：带宽有限：这是致命硬伤。前面已经提到，模拟示波器的输入信号是放大后直接控制CRT显示屏的电子偏转。虽然放大器的带宽可以越来预高，但是CRT电子的偏转速度是有限的，对于高频信号，电子的速度跟不上信号变化。当前模拟示波器带宽真的很难上去。无法存储和分析：很多老工程师非常清楚，用模拟示波器保存波形是要拿相机拍照的，如果要测幅度、周期、上升时间，只能手动去搞。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

测试仪器外校恩施-第三方公司模式调谐器位于干扰室的右侧，干扰室的左侧有一个CAN总线光纤发送器，放置于泡沫上，该的相对介电常数<1.4且位于混响室的可用空间中。光纤发送器将ECU的输出信号转化为光后进入免受射频干扰的光纤并通过波导从接近地板位置离开混响室。用于测试的ECU，以及发送和接收天线也位于混响室内部，在本图中没有显示出来。配有模式调谐器和光纤发送器的混响室。天线和ECU没有在图中显示，但也是存在的。